G	Sektion G — Physik	SECTION G — PHYSICS
	G11	Informationsspeicherung	INFORMATION STORAGE
	G11C	Statische Speicher (Informationsspeicherung mit Relativbewegung zwischen Aufzeichnungsträger und Wandler G11B; Halbleiterbauelemente zur Speicherung H01L , z.B. H01L 27/108-H01L 27/115; Impulstechnik allgemein H03K , z.B. elektronische Schalter H03K 17/00)	STATIC STORES (information storage based on relative movement between record carrier and transducer G11B; semiconductor devices for storage H01L, e.g. H01L 27/108-H01L 27/115; pulse technique in general H03K, e.g. electronic switches H03K 17/00)
	G11C 29/00	Prüfen von Speichern auf richtige Arbeitsweise; Testen von Speichern während des Standby- oder Offline-Betriebs [1, 2006.01]	Checking stores for correct operation; Testing stores during standby or offline operation [1, 2006.01]
	G11C 29/04	.  Ermitteln oder Lokalisieren defekter Speicherelemente [2006.01]	.  Detection or location of defective memory elements [2006.01]
	G11C 29/08	. .  Funktionsprüfung, z.B. Prüfung während einer Auffrischung, Einschalt-Selbsttest [ power- on self testing (POST)] oder verteilter Prüfung [2006.01]	. .  Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing (POST) or distributed testing [2006.01]
	G11C 29/12	. . .  eingebaute Prüfanordnungen, z.B. eingebauter Selbsttest (BIST) [2006.01]	. . .  Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing (BIST) [2006.01]
	G11C 29/18	. . . .  Adressengeneratoren; Einrichtungen für Speicherzugriff, z.B. Einzelheiten von Adressierschaltungen [2006.01]	. . . .  Address generation devices; Devices for accessing memories, e.g. details of addressing circuits [2006.01]