| G11C | Statische Speicher (Informationsspeicherung mit Relativbewegung zwischen Aufzeichnungsträger und Wandler G11B; Halbleiterbauelemente zur Speicherung H01L , z.B. H01L 27/108-H01L 27/115; Impulstechnik allgemein H03K , z.B. elektronische Schalter H03K 17/00) | STATIC STORES (information storage based on relative movement between record carrier and transducer G11B; semiconductor devices for storage H01L, e.g. H01L 27/108-H01L 27/115; pulse technique in general H03K, e.g. electronic switches H03K 17/00) |
| G11C 29/00 | Prüfen von Speichern auf richtige Arbeitsweise; Testen von Speichern während des Standby- oder Offline-Betriebs [1, 2006.01] | Checking stores for correct operation; Testing stores during standby or offline operation [1, 2006.01] |
| G11C 29/08 | . . | Funktionsprüfung, z.B. Prüfung während einer Auffrischung, Einschalt-Selbsttest [ power- on self testing (POST)] oder verteilter Prüfung [2006.01] |
| . . | Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing (POST) or distributed testing [2006.01] |
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