 | G01R | Messen elektrischer Größen; Messen magnetischer Größen (Messen physikalischer Größen beliebiger Art durch Umwandlung in elektrische Größen, siehe die dem Titel der Klasse G01 folgende Anmerkung 4; Messen der Diffusion von Ionen in einem elektrischen Feld, z.B. Elektrophorese, Elektroosmose, G01N; Untersuchen der nichtelektrischen oder nichtmagnetischen Eigenschaften von Materialien mit elektrischen oder magnetischen Verfahren G01N; Anzeige der richtigen Abstimmung von Resonanzkreisen H03J 3/12; Überwachen elektronischer Impulszähler H03K 21/40; Überwachen des Betriebes von Fernmeldesystemen H04) | MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES (measuring physical variables of any kind by conversion into electric variables, see Note (4) following the title of class G01; measuring diffusion of ions in an electric field, e.g. electrophoresis, electro-osmosis, G01N; investigating non-electric or non-magnetic properties of materials by using electric or magnetic methods G01N; indicating correct tuning of resonant circuits H03J 3/12; monitoring electronic pulse counters H03K 21/40; monitoring operation of communication systems H04) |
 | G01R 31/00 | Anordnungen zum Prüfen auf elektrische Eigenschaften; Anordnungen zur Bestimmung des Ortes elektrischer Fehler; Anordnungen zum elektrischen Prüfen, gekennzeichnet durch den zu prüfenden Gegenstand, soweit nicht anderweitig vorgesehen (Messleitungen, Messsonden G01R 1/06; Anzeigen des elektrischen Zustandes von mechanischen Schaltvorrichtungen oder Schutzschaltern H01H 71/04 , H01H 73/12 , H02B 11/10 , H02H 3/04; Prüfen oder Messen von Halbleitern oder Festkörperbauelementen während der Herstellung H01L 21/66; Prüfen von Leitungs-Übertragungssystemen H04B 3/46) | Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere (measuring leads, measuring probes G01R 1/06; indicating electrical condition of switchgear or protective devices H01H 71/04, H01H 73/12, H02B 11/10, H02H 3/04; testing or measuring semiconductors or solid state devices during manufacture H01L 21/66; testing line transmission systems H04B 3/46) |
| G01R 31/28 | | . | Prüfen elektronischer Schaltungen, z.B. Signalverfolger (Prüfen auf Kurzschlüsse, Leitungsunterbrechungen, Durchgang oder unrichtigen Leitungsanschluss G01R 31/02; Prüf-Rechner G06F 11/00; funktionelle Prüfung von statischen Speichern oder Prüfung von statischen Speichern während des Standby- oder Offline- Betriebes G11C 29/00) |
| | . | Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer (testing for short-circuits, discontinuities, leakage or incorrect line connection G01R 31/02; checking computers G06F 11/00; checking static stores for correct operation or testing static stores during standby or offline operation G11C 29/00) |
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