G	Sektion G — Physik	SECTION G — PHYSICS
		Instrumente	INSTRUMENTS
	G01	Messen; Prüfen	MEASURING; TESTING
	G01Q	Rastersondentechniken oder Vorrichtungen hierfür; Anwendung von Rastersondentechniken, z.B. Rastersondenmikroskopie [Scanning-Probe Microscopy = SPM] [2010.01]	SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING-PROBE MICROSCOPY [SPM] [2010.01]
	G01Q 80/00	Anwendungen von anderen Rastersondentechniken als SPM  (Herstellung oder Behandlung von Mikrostrukturen B81C; Herstellung oder Behandlung von Nanostrukturen B82B 3/00; Aufzeichnen oder Wiedergabe von Information mittels Nahfeldwechselwirkung G11B 9/12, G11B 11/24 oder G11B 13/08) [2010.01]	Applications, other than SPM, of scanning-probe techniques (manufacture or treatment of micro-structures B81C; manufacture or treatment of nano-structures B82B 3/00; recording or reproducing information using near-field interaction G11B 9/12, G11B 11/24 or G11B 13/08) [2010.01]