GSektion G — PhysikSECTION G — PHYSICS
InstrumenteINSTRUMENTS
Hierarchische Anzeige ausschalten: G01G01Messen; PrüfenMEASURING; TESTING
Hierarchische Anzeige ausschalten: G01QG01QRastersondentechniken oder Vorrichtungen hierfür; Anwendung von Rastersondentechniken, z.B. Rastersondenmikroskopie [Scanning-Probe Microscopy = SPM] [2010.01]SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING-PROBE MICROSCOPY [SPM] [2010.01]
Hierarchische Anzeige ausschalten: G01Q 60/00Link zur Depatisnet-Einsteigerrecherche mit IPC-Symbol: G01Q 60/00G01Q 60/00Besondere Arten der Rastersondenmikroskopie [SPM] oder Vorrichtungen hierfür; wesentliche Bestandteile hiervon [2010.01]Particular types of SPM [Scanning-Probe Microscopy] or apparatus therefor; Essential components thereof [2010.01]
Hierarchische Anzeige ausschalten: G01Q 60/60Link zur Depatisnet-Einsteigerrecherche mit IPC-Symbol: G01Q 60/60G01Q 60/60
. elektrochemische Rastermikroskopie [Scanning Electro-Chemical Microscopy = SECM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. SECM-Sonden [2010.01]
. SECM [Scanning Electro-Chemical Microscopy] or apparatus therefor, e.g. SECM probes [2010.01]