GSektion G — PhysikSECTION G — PHYSICS
InstrumenteINSTRUMENTS
Hierarchische Anzeige ausschalten: G01G01Messen; PrüfenMEASURING; TESTING
Hierarchische Anzeige ausschalten: G01QG01QRastersondentechniken oder Vorrichtungen hierfür; Anwendung von Rastersondentechniken, z.B. Rastersondenmikroskopie [Scanning-Probe Microscopy = SPM] [2010.01]SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING-PROBE MICROSCOPY [SPM] [2010.01]
Hierarchische Anzeige ausschalten: G01Q 60/00Link zur Depatisnet-Einsteigerrecherche mit IPC-Symbol: G01Q 60/00G01Q 60/00Besondere Arten der Rastersondenmikroskopie [SPM] oder Vorrichtungen hierfür; wesentliche Bestandteile hiervon [2010.01]Particular types of SPM [Scanning-Probe Microscopy] or apparatus therefor; Essential components thereof [2010.01]
Hierarchische Anzeige ausschalten: G01Q 60/24Link zur Depatisnet-Einsteigerrecherche mit IPC-Symbol: G01Q 60/24G01Q 60/24
. Kraftmikroskopie [Atomic Force Microscopy = AFM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. AFM-Sonden [2010.01]
. AFM [Atomic Force Microscopy] or apparatus therefor, e.g. AFM probes [2010.01]
Hierarchische Anzeige ausschalten: G01Q 60/32Link zur Depatisnet-Einsteigerrecherche mit IPC-Symbol: G01Q 60/32G01Q 60/32
. . AC-Modus [2010.01]
. . AC mode [2010.01]