G	Sektion G — Physik
		Anmerkung: In dieser Sektion wird der folgende Begriff mit der angegebenen Bedeutung verwendet: "Veränderliche" bedeutet ein charakteristisches Merkmal oder eine Eigenschaft, z.B. eine Abmessung, einen physikalischen Zustand, wie Temperatur, eine Beschaffenheit, wie Dichte oder Farbe, die an einer bestimmten Sache, z.B. an einem Gegenstand, einer Stoffmenge, einem Lichtstrahl und in einem bestimmten Augenblick gemessen werden kann; die Veränderliche kann sich ändern, sodass ihr Zahlenwert zu verschiedenen Zeiten oder unter verschiedenen Bedingungen oder in bestimmten Fällen verschieden groß sein kann. Die Veränderliche kann aber auch für eine bestimmte Sache unter gewissen Bedingungen oder für praktische Zwecke konstant sein, z.B. kann die Länge eines Stabes für viele Zwecke als konstant angesehen werden. Es sind die Definitionen von Begriffen oder Ausdrücken zu beachten. Einige sind in den Anmerkungen zu einzelnen Klassen dieser Sektion enthalten, siehe besonders die Definition zu "Messen" in Klasse G01. Andere sind in Abschnitt 187 des Handbuchs zur IPC enthalten, siehe insbesondere die Erklärungen zu "Steuern" und "Regeln". Das Klassifizieren kann in dieser Sektion mehr Schwierigkeiten als in anderen Sektionen bereiten, weil die Unterscheidung zwischen verschiedenen Anwendungsgebieten in sehr viel stärkerem Ausmaß auf Unterschieden in der Absicht des Benutzers als auf konstruktiven Unterschieden oder auf Unterschieden in der Art der Verwendung der Erfindung beruht, und auch, weil die hier behandelten Gegenstände im Wesentlichen eher Einrichtungen oder Kombinationen mit gemeinsamem Wesen oder gemeinsamen Bestandteilen darstellen als "Dinge" betreffen, die schon für sich unterscheidbar sind. So kann eine Information, z.B. eine Reihe von Symbolen, zum Zwecke der Unterrichtung oder der Reklame, umfasst von Klasse G09, dargestellt werden, um Messresultate anzuzeigen, umfasst von Klasse G01, um eine Information von oder zu einer entfernten Stelle zu übermitteln, umfasst von Klasse G08. Die zur Beschreibung der Verwendung gemachten Angaben hängen von Merkmalen ab, die für die Form des betreffenden Gerätes unwesentlich sein können, z.B. Merkmale, die die erwünschte Wirkung auf die Person betreffen, die die Darstellung wahrnimmt, oder solche, die sich auf die Darstellung von aus der Ferne gesteuerten Informationen beziehen. Ferner kann eine Einrichtung, die auf eine Zustandsänderung, z.B. im Druck einer Flüssigkeit, anspricht, ohne Änderung der Einrichtung dazu benutzt werden, Angaben über diesen Druck, umfasst von Unterklasse G01L, oder über einen anderen Zustand, der mit dem Druck zusammenhängt, zu geben, eine andere Unterklasse von G01, z.B. G01K für die Temperatur, den Druck oder seinen Verlauf, umfasst von Unterklasse G07C, aufzuzeichnen, einen Alarm auszulösen, umfasst von Unterklasse G08B oder um andere Einrichtungen zu steuern, umfasst von Klasse G05. Das Klassifikationssystem soll es möglich machen, Gegenstände ähnlicher Natur, wie oben angegeben, an gleicher Stelle zu klassifizieren, und es ist deshalb besonders wichtig, den Kern jedes technischen Gegenstandes zu bestimmen, bevor er genau klassifiziert werden kann.
	G01	Messen; Prüfen
		Anmerkung: Diese Klasse umfasst zusätzlich zu "eigentlichen" Messinstrumenten auch andere Anzeige- oder Aufzeichnungsvorrichtungen entsprechender Bauart und auch Signal- oder Steuervorrichtungen, soweit diese das Messen (wie in Anmerkung 2 unten definiert) betreffen und sie nicht für Zwecke des Signalisierens oder Steuerns besonders ausgebildet sind. In dieser Klasse wird der folgende Begriff mit der angegebenen Bedeutung verwendet: "Messen" umfasst beträchtlich mehr, als dies seiner ursprünglichen und grundlegenden Bedeutung entspricht. Im ursprünglichen Sinn bedeutet es, eine zahlenmäßige Darstellung für den Wert einer Veränderlichen in Bezug auf eine Einheit oder ein Normal oder in Bezug auf eine andere Veränderliche derselben Art zu finden, z.B. Angeben einer Länge durch Einheiten einer anderen Länge, wie das bei der Längenmessung mit einem Maßstab der Fall ist. Der Wert kann (wie erwähnt) unmittelbar oder durch das Messen einer anderen Veränderlichen, auf deren Wert die gesuchte Veränderliche bezogen werden kann, erhalten werden, z.B. das Messen von Temperaturänderungen durch Messen einer sich ergebenden Änderung der Länge einer Quecksilbersäule. Da jedoch dieselbe Vorrichtung oder dasselbe Instrument - anstatt eine unmittelbare Anzeige zu geben - auch dazu benutzt werden kann, eine Registrierung zu bewirken oder ein Signal für einen Anzeige- oder Steuervorgang in Gang zu setzen oder um zusammen mit anderen Vorrichtungen oder Instrumenten ein zusammengefasstes Ergebnis aus der Messung von zwei oder mehr Veränderlichen gleicher oder unterschiedlicher Art zu liefern, ist es nötig, den Begriff "Messen" so weit zu fassen, dass dazu auch jede Maßnahme gehört, die es ermöglicht, zu einer solchen zahlenmäßigen Darstellung durch zusätzliche Anwendung irgendeiner Art von Umformung eines Wertes in Ziffern zu gelangen. So kann die Darstellung in Ziffern durch digitale Anzeige oder durch Ablesen einer Skala erfolgen, oder eine Darstellung kann ohne Gebrauch von Ziffern bewirkt werden, z.B. durch ein wahrnehmbares (veränderliches) charakteristisches Merkmal der Sache (z.B. eines Gegenstands, einer Substanz, eines Lichtstrahls), deren zu messende Veränderliche eine Eigenschaft oder ein Zustand oder ein diesen vergleichbares Merkmal ist (z.B. die entsprechende Stellung eines Gliedes ohne jede Skala, eine entsprechende, irgendwie erzeugte Spannung). In vielen Fällen erfolgt keine Anzeige der Absolutwerte, sondern nur die Anzeige der Abweichung von oder der Übereinstimmung mit einem Normal oder einer vorgegebenen Größe (deren Wert zahlenmäßig bekannt sein kann oder nicht); das Normal oder die vorgegebene Größe kann der Wert einer anderen Veränderlichen gleicher Art, aber einer anderen Sache (z.B. ein Standardmaß) oder derselben Sache zu einem anderen Zeitpunkt sein. In ihrer einfachsten Form kann eine Messung nur die Anzeige der An- oder Abwesenheit eines Zustandes oder einer Eigenschaft, z.B. einer Bewegung (in jeder oder einer bestimmten Richtung), betreffen oder sich darauf beziehen, ob eine Veränderliche einen bestimmten Wert überschreitet. Es sind die den Titeln der Klasse B81 und der Unterklasse B81B folgenden Anmerkungen bezüglich "Mikrostrukturbauelemente" und "Mikrostruktursysteme" und die dem Titel der Unterklasse B82B folgende Anmerkung bezüglich "Nanostrukturen" zu beachten. Es sind die dem Titel der Sektion G folgenden Anmerkungen zu beachten, insbesondere die Definition des Begriffs "Veränderliche". Bei vielen Messanordnungen wird eine erste Veränderliche, die gemessen werden soll, in eine zweite oder in weitere Veränderliche umgeformt. Die zweite oder die weiteren Veränderlichen können sein: ein Zustand im Messobjekt, der mit der ersten Variablen in Beziehung steht, oder eine Verschiebung eines Messobjekts. Weitere Umformungen können notwendig sein. Bei der Klassifizierung einer solchen Anordnung ist der Schritt oder jeder Schritt der Umformung zu klassifizieren, der von Interesse ist, oder wenn nur die Messung als Ganzes von Interesse ist, dann ist die erste Veränderliche an der zutreffenden Stelle zu klassifizieren. Das ist insbesondere wichtig, wenn zwei oder mehr Umformungen stattfinden; wenn etwa eine erste Veränderliche, z.B. Druck, in eine zweite Veränderliche, z.B. die optische Eigenschaft eines Sensors, umgeformt wird und die zweite Veränderliche mittels einer dritten Veränderlichen, z.B. ein elektrischer Effekt, dargestellt wird. In einem solchen Fall sollten folgende Klassifikationsstellen in Betracht gezogen werden: Die Stelle für die Umformung der ersten Veränderlichen, die Stelle für die Messung des Zustands, der durch die erste Veränderliche hervorgerufen wird, Unterklasse G01D für die Anzeige der Messung und schließlich, falls es sie gibt, die Stelle für die Messung als Ganzes. Das Messen der Veränderung des Wertes einer physikalischen Eigenschaft ist in dieselbe Unterklasse zu klassifizieren wie das Messen dieser physikalischen Eigenschaft selbst, z.B. das Messen einer Längendehnung in G01B.
	G01Q	Rastersondentechniken oder Vorrichtungen hierfür; Anwendung von Rastersondentechniken, z.B. Rastersondenmikroskopie [Scanning-Probe Microscopy = SPM] [2010.01]
		Anmerkung: In dieser Unterklasse wird, sofern nichts Gegenteiliges angegeben ist, in jeder hierarchischen Ebene die Erste-Stelle-Vorrangregel angewendet, d.h. in die erste zutreffende Stelle klassifiziert.
	G01Q 10/00	Abtastanordnungen oder Positionieranordnungen, d.h. Anordnungen zur aktiven Steuerung der Bewegung oder der Position der Sonde [2010.01]
	G01Q 10/02	.  Grobes Abtasten (Scannen) oder Positionieren [2010.01]
	G01Q 10/04	.  Feines Abtasten (Scannen) oder Positionieren  [2010.01]
	G01Q 10/06	. .  Schaltungen oder Algorithmen hierfür [2010.01]
	G01Q 20/00	Überwachung der Bewegung oder der Position der Sonde [2010.01]
	G01Q 20/02	.  durch optische Mittel  [2010.01]
	G01Q 20/04	.  Selbst-detektierende Sonden, d.h. die Sonde selbst erzeugt ein für ihre Position repräsentatives Signal, z.B. piezoelektrische Sensoren [2010.01]
	G01Q 30/00	Hilfsmittel zur Unterstützung oder Verbesserung von Rastersondentechniken oder Rastersondenvorrichtungen, z.B. Anzeige- oder Datenverarbeitungseinrichtungen [2010.01]
	G01Q 30/02	.  Nicht-SPM Analyseeinrichtungen, z.B. Rasterelektronenmikroskope [Scanning Electron Microscope = SEM], Spektrometer oder optische Mikroskope [2010.01]
	G01Q 30/04	.  Anzeige- oder Datenverarbeitungseinrichtungen [2010.01]
	G01Q 30/06	. .  zur Fehlerkompensation [2010.01]
	G01Q 30/08	.  Mittel zum Schaffen oder Einstellen einer gewünschten Umgebungsbedingung innerhalb einer Probenkammer [2010.01]
	G01Q 30/10	. .  thermische Umgebung  [2010.01]
	G01Q 30/12	. .  fluide Umgebung  [2010.01]
	G01Q 30/14	. . .  flüssige Umgebung [2010.01]
	G01Q 30/16	. .  Vakuumumgebung  [2010.01]
	G01Q 30/18	.  Mittel zum Schützen oder Isolieren des Inneren einer Probenkammer vor äußeren Umgebungsbedingungen oder Umgebungseinflüssen, z.B. Schwingungen oder elektromagnetischen Feldern [2010.01]
	G01Q 30/20	.  Vorrichtungen oder Verfahren für die Probenhandhabung [2010.01]
	G01Q 40/00	Kalibrierung, z.B. von Sonden [2010.01]
	G01Q 40/02	.  Kalibrierstandards und Verfahren zu deren Herstellung [2010.01]
	G01Q 60/00	Besondere Arten der Rastersondenmikroskopie [SPM] oder Vorrichtungen hierfür; wesentliche Bestandteile hiervon [2010.01]
	G01Q 60/02	.  Kombinierte SPM-Methoden, die zwei oder mehr SPM-Techniken umfassen [2010.01]
	G01Q 60/04	. .  Rastertunnel-Mikroskopie [Scanning Tunnelling Microscopy = STM] in Kombination mit Kraftmikroskopie [Atomic Force Microscopy = AFM]  [2010.01]
	G01Q 60/06	. .  optische Rasternahfeldmikroskopie [Scanning Near-field Optical Microscopy = SNOM] in Kombination mit Kraftmikroskopie [Atomic Force Microscopy = AFM] [2010.01]
	G01Q 60/08	. .  Magnetkraftmikroskopie [Magnetic Force Microscopy = MFM] in Kombination mit Kraftmikroskopie [Atomic Force Microscopy = AFM] [2010.01]
	G01Q 60/10	.  Rastertunnel-Mikroskopie [Scanning Tunnelling Microscopy = STM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. STM-Sonden  [2010.01]
	G01Q 60/12	. .  Rastertunnel-Spektroskopie [Scanning Tunnelling Spectroscopy = STS] [2010.01]
	G01Q 60/14	. .  Rastertunnel-Potentiometrie [Scanning Tunnelling Potentiometry = STP] [2010.01]
	G01Q 60/16	. .  Sonden, deren Herstellung und zugehörige Geräte, z.B. Halterungen [2010.01]
	G01Q 60/18	.  optische Rasternahfeldmikroskopie [Scanning Near-Field Optical Microscopy = SNOM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. SNOM-Sonden [2010.01]
	G01Q 60/20	. .  Fluoreszenz [2010.01]
	G01Q 60/22	. .  Sonden, deren Herstellung und zugehörige Geräte, z.B. Halterungen [2010.01]
	G01Q 60/24	.  Kraftmikroskopie [Atomic Force Microscopy = AFM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. AFM-Sonden [2010.01]
	G01Q 60/26	. .  Reibungskraft-Mikroskopie [2010.01]
	G01Q 60/28	. .  Adhäsionskraft-Mikroskopie [2010.01]
	G01Q 60/30	. .  Potential-Rastermikroskopie [2010.01]
	G01Q 60/32	. .  AC-Modus [2010.01]
	G01Q 60/34	. . .  Tapping-Modus  [2010.01]
	G01Q 60/36	. .  DC-Modus  [2010.01]
	G01Q 60/38	. .  Sonden, deren Herstellung und zugehörige Geräte, z.B. Halterungen [2010.01]
	G01Q 60/40	. . .  Leitfähige Sonden [2010.01]
	G01Q 60/42	. . .  Funktionalisierung  [2010.01]
	G01Q 60/44	.  Ionenleitfähigkeits-Rastermikroskopie [Scanning Ion-Conductance Microscopy = SICM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. SICM-Sonden [2010.01]
	G01Q 60/46	.  Kapazitätsrastermikroskopie [Scanning Capacitance Microscopy = SCM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. SCM-Sonden  [2010.01]
	G01Q 60/48	. .  Sonden, deren Herstellung und zugehörige Geräte, z.B. Halterungen [2010.01]
	G01Q 60/50	.  Magnetkraftmikroskopie [Magnetic Force Microscopy = MFM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. MFM-Sonden [2010.01]
	G01Q 60/52	. .  Resonanz [2010.01]
	G01Q 60/54	. .  Sonden, deren Herstellung und zugehörige Geräte, z.B. Halterungen [2010.01]
	G01Q 60/56	. . .  Sonden mit magnetischer Beschichtung  [2010.01]
	G01Q 60/58	.  thermische Rastermikroskopie [Scanning Thermal Microscopy = SThM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. SThM -Sonden [2010.01]
	G01Q 60/60	.  elektrochemische Rastermikroskopie [Scanning Electro-Chemical Microscopy = SECM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. SECM-Sonden [2010.01]
	G01Q 70/00	Allgemeine Aspekte zu SPM-Sonden, deren Herstellung und zugehörigen Geräten, sofern sie nicht besonders für eine einzelne der SPM-Techniken unter G01Q 60/00 ausgebildet sind [2010.01]
	G01Q 70/02	.  Sondenhalterungen [2010.01]
	G01Q 70/04	. .  mit Kompensation für temperatur- oder schwingungsinduzierte Fehler [2010.01]
	G01Q 70/06	.  Arrays von Sondenspitzen [2010.01]
	G01Q 70/08	.  Sondencharakteristik [2010.01]
	G01Q 70/10	. .  Form und Konizität [2010.01]
	G01Q 70/12	. . .  Nanoröhrchen-Spitzen [2010.01]
	G01Q 70/14	. .  besondere Materialien [2010.01]
	G01Q 70/16	.  Sondenherstellung [2010.01]
	G01Q 70/18	. .  Funktionalisierung [2010.01]
	G01Q 80/00	Anwendungen von anderen Rastersondentechniken als SPM  (Herstellung oder Behandlung von Mikrostrukturen B81C; Herstellung oder Behandlung von Nanostrukturen B82B 3/00; Aufzeichnen oder Wiedergabe von Information mittels Nahfeldwechselwirkung G11B 9/12, G11B 11/24 oder G11B 13/08) [2010.01]
	G01Q 90/00	Rastersondentechniken und Rastersondenvorrichtungen soweit nicht anderweitig vorgesehen [2010.01]