G	Sektion G — Physik	PHYSICS
	G11	Informationsspeicherung	INFORMATION STORAGE
	G11C	Statische Speicher (Halbleiter-Speicherelemente H10B)	STATIC STORES (semiconductor memory devices H10B)
	G11C 29/00	Prüfen von Speichern auf richtige Arbeitsweise; Testen von Speichern während des Standby- oder Offline-Betriebs [1, 2006.01]	Checking stores for correct operation; Testing stores during standby or offline operation [1, 2006.01]
	G11C 29/04	.  Ermitteln oder Lokalisieren defekter Speicherelemente [2006.01]	.  Detection or location of defective memory elements [2006.01]
	G11C 29/08	. .  Funktionsprüfung, z.B. Prüfung während einer Auffrischung, Einschalt-Selbsttest (power- on self testing [POST]) oder verteilter Prüfung [2006.01]	. .  Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing [2006.01]
	G11C 29/12	. . .  eingebaute Prüfanordnungen, z.B. eingebauter Selbsttest [BIST] [2006.01]	. . .  Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] [2006.01]
	G11C 29/18	. . . .  Adressengeneratoren; Einrichtungen für Speicherzugriff, z.B. Einzelheiten von Adressierschaltungen [2006.01]	. . . .  Address generation devices; Devices for accessing memories, e.g. details of addressing circuits [2006.01]
	G11C 29/30	. . . . .  Zugriff auf Einfach-Arrays [2006.01]	. . . . .  Accessing single arrays [2006.01]