G	Sektion G — Physik	PHYSICS
	G11	Informationsspeicherung	INFORMATION STORAGE
	G11C	Statische Speicher (Halbleiter-Speicherelemente H10B)	STATIC STORES (semiconductor memory devices H10B)
	G11C 29/00	Prüfen von Speichern auf richtige Arbeitsweise; Testen von Speichern während des Standby- oder Offline-Betriebs [1, 2006.01]	Checking stores for correct operation; Testing stores during standby or offline operation [1, 2006.01]
	G11C 29/04	.  Ermitteln oder Lokalisieren defekter Speicherelemente [2006.01]	.  Detection or location of defective memory elements [2006.01]
	G11C 29/08	. .  Funktionsprüfung, z.B. Prüfung während einer Auffrischung, Einschalt-Selbsttest (power- on self testing [POST]) oder verteilter Prüfung [2006.01]	. .  Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing [2006.01]
	G11C 29/10	. . .  Prüfalgorithmen, z.B. Speicher-Scan-Algorithmen [MScan]; Prüfmuster, z.B. Schachbrettmuster [2006.01]	. . .  Test algorithms, e.g. memory scan [MScan] algorithms; Test patterns, e.g. checkerboard patterns [2006.01]