GSektion G — PhysikPHYSICS
Hierarchische Anzeige ausschalten: G01G01Messen; PrüfenMEASURING; TESTING
Hierarchische Anzeige ausschalten: G01RLink zur Definition für IPC-Symbol: G01RG01RMessen elektrischer Größen; Messen magnetischer Größen (Anzeige der richtigen Abstimmung von Resonanzkreisen H03J 3/12)MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES (indicating correct tuning of resonant circuits H03J 3/12)
Hierarchische Anzeige ausschalten: G01R 31/00Link zur Definition für IPC-Symbol: G01R 31/00Link zur Depatisnet-Einsteigerrecherche mit IPC-Symbol: G01R 31/00G01R 31/00Anordnungen zum Prüfen auf elektrische Eigenschaften; Anordnungen zur Bestimmung des Ortes elektrischer Fehler; Anordnungen zum elektrischen Prüfen, gekennzeichnet durch den zu prüfenden Gegenstand, soweit nicht anderweitig vorgesehen (Prüfen oder Messen von Halbleitern oder Festkörperbauelementen während der Herstellung H01L 21/66Prüfen von Leitungs-Übertragungssystemen H04B 3/46) [1, 2006.01]Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere (testing or measuring semiconductors or solid state devices during manufacture H01L 21/66testing line transmission systems H04B 3/46) [1, 2006.01]
Hierarchische Anzeige ausschalten: G01R 31/28Link zur Definition für IPC-Symbol: G01R 31/28Link zur Depatisnet-Einsteigerrecherche mit IPC-Symbol: G01R 31/28G01R 31/28
Prüfen elektronischer Schaltungen, z.B. Signalverfolger (Prüfen von Computern während des Standby-Betriebs oder während der Leerlaufzeit G06F 11/22) [1, 2006.01]
Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer (testing computers during standby operation or idle time G06F 11/22) [1, 2006.01]
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. . Prüfen von digitalen Schaltungen [6, 2006.01]
. . Testing of digital circuits [6, 2006.01]
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. . . Funktionsprüfung (G01R 31/3177 hat Vorrang) [6, 2006.01]
. . . Functional testing (G01R 31/3177 takes precedence) [6, 2006.01]
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. . . . Erzeugung von Prüfeingaben, z.B. Prüfvektoren, Prüfmustern oder Prüffolgen [6, 2006.01]
. . . . Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences [6, 2006.01]