| G | Sektion G — Physik | PHYSICS |
| G01 | Messen; Prüfen | MEASURING; TESTING |
| G01Q | Rastersondentechniken oder Vorrichtungen hierfür; Anwendung von Rastersondentechniken, z.B. Rastersondenmikroskopie [Scanning-Probe Microscopy = SPM] [2010.01] | SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING-PROBE MICROSCOPY [SPM] [2010.01] |
| G01Q 10/00 | Abtastanordnungen oder Positionieranordnungen, d.h. Anordnungen zur aktiven Steuerung der Bewegung oder der Position der Sonde [2010.01] | Scanning or positioning arrangements, i.e. arrangements for actively controlling the movement or position of the probe [2010.01] |
| G01Q 10/02 | . | Grobes Abtasten (Scannen) oder Positionieren [2010.01] |
| . | Coarse scanning or positioning [2010.01] |
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| G01Q 10/04 | . | Feines Abtasten (Scannen) oder Positionieren [2010.01] |
| . | Fine scanning or positioning [2010.01] |
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| G01Q 10/06 | . . | Schaltungen oder Algorithmen hierfür [2010.01] |
| . . | Circuits or algorithms therefor [2010.01] |
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| G01Q 20/00 | Überwachung der Bewegung oder der Position der Sonde [2010.01] | Monitoring the movement or position of the probe [2010.01] |
| G01Q 20/02 | . | durch optische Mittel [2010.01] |
| . | by optical means [2010.01] |
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| G01Q 20/04 | . | Selbst-detektierende Sonden, d.h. die Sonde selbst erzeugt ein für ihre Position repräsentatives Signal, z.B. piezoelektrische Sensoren [2010.01] |
| . | Self-detecting probes, i.e. wherein the probe itself generates a signal representative of its position, e.g. piezoelectric gauge [2010.01] |
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| G01Q 30/00 | Hilfsmittel zur Unterstützung oder Verbesserung von Rastersondentechniken oder Rastersondenvorrichtungen, z.B. Anzeige- oder Datenverarbeitungseinrichtungen [2010.01] | Auxiliary means serving to assist or improve the scanning probe techniques or apparatus, e.g. display or data processing devices [2010.01] |
| G01Q 30/02 | . | Nicht-SPM Analyseeinrichtungen, z.B. Rasterelektronenmikroskope [Scanning Electron Microscope = SEM], Spektrometer oder optische Mikroskope [2010.01] |
| . | Non-SPM analysing devices, e.g. SEM [Scanning Electron Microscope], spectrometer or optical microscope [2010.01] |
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| G01Q 30/04 | . | Anzeige- oder Datenverarbeitungseinrichtungen [2010.01] |
| . | Display or data processing devices [2010.01] |
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| G01Q 30/06 | . . | zur Fehlerkompensation [2010.01] |
| . . | for error compensation [2010.01] |
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| G01Q 30/08 | . | Mittel zum Schaffen oder Einstellen einer gewünschten Umgebungsbedingung innerhalb einer Probenkammer [2010.01] |
| . | Means for establishing or regulating a desired environmental condition within a sample chamber [2010.01] |
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| G01Q 30/10 | . . | thermische Umgebung [2010.01] |
| . . | Thermal environment [2010.01] |
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| G01Q 30/12 | . . | fluide Umgebung [2010.01] |
| . . | Fluid environment [2010.01] |
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| G01Q 30/14 | . . . | flüssige Umgebung [2010.01] |
| . . . | Liquid environment [2010.01] |
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| G01Q 30/16 | . . | Vakuumumgebung [2010.01] |
| . . | Vacuum environment [2010.01] |
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| G01Q 30/18 | . | Mittel zum Schützen oder Isolieren des Inneren einer Probenkammer vor äußeren Umgebungsbedingungen oder Umgebungseinflüssen, z.B. Schwingungen oder elektromagnetischen Feldern [2010.01] |
| . | Means for protecting or isolating the interior of a sample chamber from external environmental conditions or influences, e.g. vibrations or electromagnetic fields [2010.01] |
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| G01Q 30/20 | . | Vorrichtungen oder Verfahren für die Probenhandhabung [2010.01] |
| . | Sample handling devices or methods [2010.01] |
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| G01Q 40/00 | Kalibrierung, z.B. von Sonden [2010.01] | Calibration, e.g. of probes [2010.01] |
| G01Q 40/02 | . | Kalibrierstandards und Verfahren zu deren Herstellung [2010.01] |
| . | Calibration standards or methods of fabrication thereof [2010.01] |
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| G01Q 60/00 | Besondere Arten der Rastersondenmikroskopie [SPM] oder Vorrichtungen hierfür; wesentliche Bestandteile hiervon [2010.01] | Particular types of SPM [Scanning-Probe Microscopy] or apparatus therefor; Essential components thereof [2010.01] |
| G01Q 60/02 | . | Kombinierte SPM-Methoden, die zwei oder mehr SPM-Techniken umfassen [2010.01] |
| . | Multiple-type SPM, i.e. involving two or more SPM techniques [2010.01] |
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| G01Q 60/04 | . . | Rastertunnel-Mikroskopie [Scanning Tunnelling Microscopy = STM] in Kombination mit Kraftmikroskopie [Atomic Force Microscopy = AFM] [2010.01] |
| . . | STM [Scanning Tunnelling Microscopy] combined with AFM [Atomic Force Microscopy] [2010.01] |
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| G01Q 60/06 | . . | optische Rasternahfeldmikroskopie [Scanning Near-field Optical Microscopy = SNOM] in Kombination mit Kraftmikroskopie [Atomic Force Microscopy = AFM] [2010.01] |
| . . | SNOM [Scanning Near-field Optical Microscopy] combined with AFM [Atomic Force Microscopy] [2010.01] |
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| G01Q 60/08 | . . | Magnetkraftmikroskopie [Magnetic Force Microscopy = MFM] in Kombination mit Kraftmikroskopie [Atomic Force Microscopy = AFM] [2010.01] |
| . . | MFM [Magnetic Force Microscopy] combined with AFM [Atomic Force Microscopy] [2010.01] |
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| G01Q 60/10 | . | Rastertunnel-Mikroskopie [Scanning Tunnelling Microscopy = STM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. STM-Sonden [2010.01] |
| . | STM [Scanning Tunnelling Microscopy] or apparatus therefor, e.g. STM probes [2010.01] |
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| G01Q 60/12 | . . | Rastertunnel-Spektroskopie [Scanning Tunnelling Spectroscopy = STS] [2010.01] |
| . . | STS [Scanning Tunnelling Spectroscopy] [2010.01] |
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| G01Q 60/14 | . . | Rastertunnel-Potentiometrie [Scanning Tunnelling Potentiometry = STP] [2010.01] |
| . . | STP [Scanning Tunnelling Potentiometry] [2010.01] |
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| G01Q 60/16 | . . | Sonden, deren Herstellung und zugehörige Geräte, z.B. Halterungen [2010.01] |
| . . | Probes, their manufacture or their related instrumentation, e.g. holders [2010.01] |
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| G01Q 60/18 | . | optische Rasternahfeldmikroskopie [Scanning Near-Field Optical Microscopy = SNOM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. SNOM-Sonden [2010.01] |
| . | SNOM [Scanning Near-Field Optical Microscopy] or apparatus therefor, e.g. SNOM probes [2010.01] |
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| G01Q 60/20 | . . | Fluoreszenz [2010.01] |
| . . | Fluorescence [2010.01] |
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| G01Q 60/22 | . . | Sonden, deren Herstellung und zugehörige Geräte, z.B. Halterungen [2010.01] |
| . . | Probes, their manufacture or their related instrumentation, e.g. holders [2010.01] |
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| G01Q 60/24 | . | Kraftmikroskopie [Atomic Force Microscopy = AFM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. AFM-Sonden [2010.01] |
| . | AFM [Atomic Force Microscopy] or apparatus therefor, e.g. AFM probes [2010.01] |
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| G01Q 60/26 | . . | Reibungskraft-Mikroskopie [2010.01] |
| . . | Friction force microscopy [2010.01] |
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| G01Q 60/28 | . . | Adhäsionskraft-Mikroskopie [2010.01] |
| . . | Adhesion force microscopy [2010.01] |
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| G01Q 60/30 | . . | Potential-Rastermikroskopie [2010.01] |
| . . | Scanning potential microscopy [2010.01] |
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| G01Q 60/32 | | |
| G01Q 60/34 | . . . | Tapping-Modus [2010.01] |
| . . . | Tapping mode [2010.01] |
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| G01Q 60/36 | | |
| G01Q 60/38 | . . | Sonden, deren Herstellung und zugehörige Geräte, z.B. Halterungen [2010.01] |
| . . | Probes, their manufacture or their related instrumentation, e.g. holders [2010.01] |
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| G01Q 60/40 | . . . | Leitfähige Sonden [2010.01] |
| . . . | Conductive probes [2010.01] |
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| G01Q 60/42 | . . . | Funktionalisierung [2010.01] |
| . . . | Functionalisation [2010.01] |
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| G01Q 60/44 | . | Ionenleitfähigkeits-Rastermikroskopie [Scanning Ion-Conductance Microscopy = SICM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. SICM-Sonden [2010.01] |
| . | SICM [Scanning Ion-Conductance Microscopy] or apparatus therefor, e.g. SICM probes [2010.01] |
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| G01Q 60/46 | . | Kapazitätsrastermikroskopie [Scanning Capacitance Microscopy = SCM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. SCM-Sonden [2010.01] |
| . | SCM [Scanning Capacitance Microscopy] or apparatus therefor, e.g. SCM probes [2010.01] |
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| G01Q 60/48 | . . | Sonden, deren Herstellung und zugehörige Geräte, z.B. Halterungen [2010.01] |
| . . | Probes, their manufacture or their related instrumentation, e.g. holders [2010.01] |
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| G01Q 60/50 | . | Magnetkraftmikroskopie [Magnetic Force Microscopy = MFM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. MFM-Sonden [2010.01] |
| . | MFM [Magnetic Force Microscopy] or apparatus therefor, e.g. MFM probes [2010.01] |
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| G01Q 60/52 | | |
| G01Q 60/54 | . . | Sonden, deren Herstellung und zugehörige Geräte, z.B. Halterungen [2010.01] |
| . . | Probes, their manufacture or their related instrumentation, e.g. holders [2010.01] |
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| G01Q 60/56 | . . . | Sonden mit magnetischer Beschichtung [2010.01] |
| . . . | Probes with magnetic coating [2010.01] |
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| G01Q 60/58 | . | thermische Rastermikroskopie [Scanning Thermal Microscopy = SThM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. SThM -Sonden [2010.01] |
| . | SThM [Scanning Thermal Microscopy] or apparatus therefor, e.g. SThM probes [2010.01] |
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| G01Q 60/60 | . | elektrochemische Rastermikroskopie [Scanning Electro-Chemical Microscopy = SECM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. SECM-Sonden [2010.01] |
| . | SECM [Scanning Electro-Chemical Microscopy] or apparatus therefor, e.g. SECM probes [2010.01] |
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| G01Q 70/00 | Allgemeine Aspekte zu SPM-Sonden, deren Herstellung und zugehörigen Geräten, sofern sie nicht besonders für eine einzelne der SPM-Techniken unter G01Q 60/00 ausgebildet sind [2010.01] | General aspects of SPM probes, their manufacture or their related instrumentation, insofar as they are not specially adapted to a single SPM technique covered by group G01Q 60/00 [2010.01] |
| G01Q 70/02 | . | Sondenhalterungen [2010.01] |
| . | Probe holders [2010.01] |
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| G01Q 70/04 | . . | mit Kompensation für temperatur- oder schwingungsinduzierte Fehler [2010.01] |
| . . | with compensation for temperature or vibration induced errors [2010.01] |
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| G01Q 70/06 | . | Arrays von Sondenspitzen [2010.01] |
| . | Probe tip arrays [2010.01] |
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| G01Q 70/08 | . | Sondencharakteristik [2010.01] |
| . | Probe characteristics [2010.01] |
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| G01Q 70/10 | . . | Form und Konizität [2010.01] |
| . . | Shape or taper [2010.01] |
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| G01Q 70/12 | . . . | Nanoröhrchen-Spitzen [2010.01] |
| . . . | Nanotube tips [2010.01] |
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| G01Q 70/14 | . . | besondere Materialien [2010.01] |
| . . | Particular materials [2010.01] |
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| G01Q 70/16 | . | Sondenherstellung [2010.01] |
| . | Probe manufacture [2010.01] |
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| G01Q 70/18 | . . | Funktionalisierung [2010.01] |
| . . | Functionalisation [2010.01] |
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| G01Q 80/00 | Anwendungen von anderen Rastersondentechniken als SPM (Herstellung oder Behandlung von Mikrostrukturen B81C; Herstellung oder Behandlung von Nanostrukturen B82B 3/00; Aufzeichnen oder Wiedergabe von Information mittels Nahfeldwechselwirkung G11B 9/12, G11B 11/24 oder G11B 13/08) [2010.01] | Applications, other than SPM, of scanning-probe techniques (manufacture or treatment of microstructures B81C; manufacture or treatment of nanostructures B82B 3/00; recording or reproducing information using near-field interaction G11B 9/12, G11B 11/24 or G11B 13/08) [2010.01] |
| G01Q 90/00 | Rastersondentechniken und Rastersondenvorrichtungen soweit nicht anderweitig vorgesehen [2010.01] | Scanning-probe techniques or apparatus not otherwise provided for [2010.01] |