G01Q 80/00
Definition
Diese Klassifikationsstelle umfasst:
Besondere Anwendungen von anderen Rastersondentechniken als der Rastersondenmikroskopie (SPM).
Querverweise
Einschränkende Querverweise
Diese Klassifikationsstelle umfasst nicht:
Herstellung oder Behandlung von Mikrostrukturen
| B81C |
Herstellung oder Behandlung von Nanostrukturen
| B82B 3/00 |
Aufzeichnen oder Wiedergeben von Information unter Verwendung von Nahfeldwechselwirkungen
| G11B 9/12, G11B 11/24, G11B 13/08 |
Informative Querverweise
Spezielle Rastersondenmikroskopie (SPM)-Techniken, Vorrichtungen hierfür oder Bestandteile hiervon, z. B. Sonden
| G01Q 60/00 |
Allgemeine Aspekte zu SPM-Sonden
| G01Q 70/00 |