Verfahren oder Geräte, bei welchen die beiden überwachten Wechselwirkungen das von der Probenoberfläche emittierte Nahfeldlicht (optische Rasternahfeldmikroskopie - SNOM) und die Anziehungs- oder Abstoßungskraft zwischen der Sonde und der Probenoberfläche (Kraftmikroskopie - AFM) sind.
| spezielle optische Rasternahfeldmikroskopie (SNOM) | G01Q 60/18 |
| spezielle Kraftmikroskopie (AFM) | G01Q 60/24 |