Verfahren oder Geräte mit zwei oder mehreren verschiedenen Wechselwirkungen zwischen der Rastersondenspitze und der Probenoberfläche, z. B. Hebelarm-artige (cantilever-type) Rastersondenmikroskope, außer Kraftmikroskopie (AFM)-Vorrichtungen, welche ausschließlich für die AFM-Betriebsart hergestellt wurden.
Die Vorrichtung kann entweder eine oder mehrere Sonden zum Ausführen verschiedener Arten von Rastersondenmikroskopie an der Probe umfassen.
| Vorrichtungen mit Arrays von Sondenspitzen mit gleichartiger Funktion | G01Q 70/06 |