Mittel zur Vermeidung einer Störung der Rastersondenmikroskopie (SPM) durch eine Bedingung außerhalb des Rastersondenmikroskops, z. B. Vibration, Temperatur oder Druck.
Das Rastersondenmikroskop ist als Ganzes gegen widrige Bedingungen geschützt; beispielsweise mit einem speziellen Gehäuse oder Vorrichtung für das Unterdrücken externer Vibrationen, um die Stabilität des Mikroskops zu gewährleisten, oder einer Abschirmung zum Schutz gegen elektromagnetische Felder.
| Mittel zum Einstellen der Umgebungsbedingung für die Probenkammer | G01Q 30/08 |
| Innerhalb der Sonde eingebaute Mittel zum Einstellen/Fehlerkompensation | G01Q 70/04 |