H04N 25/671

Definition

Diese Klassifikationsstelle umfasst:

Schaltungen und Anordnungen zum Korrigieren oder Erkennen von durch Sensoreigenschaften verursachter Inhomogenität, wie:

• unterschiedliche Pixeleigenschaften – Empfindlichkeit, Verstärkung, Offset, Antwortkurve;
• unterschiedliche Eigenschaften von Abtastschaltungen, Verstärkern, Analog-Digital-Wandeln verwendet für unterschiedliche Gruppen von Pixeln;
• die resistiven und kapazitiven Eigenschaften von langen Auslese- oder Steuerleitungen.

Schaltungen und Anordnungen zum Korrigieren oder Erkennen von Inhomogenität:

• unter Verwendung von Dummy-Pixeln und/oder Dummy-Strukturen, nicht OB-Pixel zum Erkennen von Offset-Variationen;
• unter Verwendung von Korrekturschaltungen zum Korrigieren von Variationen der Verstärkung zwischen Pixeln oder Gruppen von Pixeln;
• durch Ausführen einer Messung der Variationen der Verstärkung;
• unter Verwendung von Korrekturschaltungen zum Korrigieren von Offset-Variationen zwischen Pixeln oder Gruppen von Pixeln;
• durch Ausführen einer Messung der Offset-Variationen.

Korrekturmodi von Inhomogenität für:

• ein Messen der Verstärkungsantworten der Pixel;
• ein Messen der Offset-Antworten der Pixel.
  
  

Beziehungen zu anderen Klassifikationsstellen

Es gibt eine gewisse Ähnlichkeit zwischen den Schaltungen und Verfahren zum Korrigieren von Dunkelstrom ( H04N 25/63) und zum Korrigieren von Offset-Ungleichförmigkeiten der Pixel. Da beide temperaturabhängig sein können, können beide durch ein Dunkelbild korrigiert werden.

H04N 25/671

Definition Statement

This place covers:

Circuits and arrangements for correcting and detecting of non-uniformity caused by sensor characteristics such as:

• different pixel characteristics – sensitivity, gain, offset, response curve;
• different characteristics of sampling circuits, amplifiers, ADCs used for different groups of pixels;
• the resistive or capacitive properties of long readout or control lines.

Circuits and arrangements for correcting and detecting of non-uniformity by

• using dummy pixels and/or dummy structures, not OB pixels for detecting offset variations;
• using correction circuits for correcting gain variations between pixels or groups of pixels;
• performing measurement of the gain variations;
• using correction circuits for correcting offset variations between pixels or groups of pixels;
• performing measurement of the offset variations.

Non-uniformity correction modes for

• measuring the gain responses of the pixels;
• measuring the offset responses of the pixels.

Relationships with other classification places

There is a certain similarity between the circuits and methods for correcting dark current ( H04N 25/63) and for correcting offset non-uniformities of the pixels. Since both can be temperature dependent, both can be corrected by using a dark frame.