Prüfen der elektrischen Eigenschaften von PV-Baulementen im Zustand der Dunkelheit, z.B. Kurzschlussprüfung.
Prüfen der elektrischen Eigenschaften, z.B. I-U-Kennlinien, von PV-Bauelementen unter Sonnensimulatoren.
Prüfen von Halbleiterbauelementen während der Herstellung | H01L 21/66 |
Prüfen von Halbleiterbauelementen allgemein | G01R 31/26 |
Prüfen der elektrischen Eigenschaften von elektrischen Stromversorgungsgeräten | G01R 31/40 |
Leuchten, die zum Befestigen bestimmt sind, z.B. Sonnensimulatoren | F21S 8/00 |
Elektrolumineszierende Lichtquellen | H05B 33/00 |
Testing of electrical properties of PV devices in the dark state, e.g. short circuit test.
Testing of electrical properties, e.g. I-V characteristics, of PV devices under solar simulators.
Testing of semiconductor devices during manufacturing | H01L 21/66 |
Testing of general semiconductor devices | G01R 31/26 |
Testing of electrical properties of electrical power supplies | G01R 31/40 |
Lighting devices intended for fixed installation, e.g. solar simulators | F21S 8/00 |
Electroluminescent light sources | H05B 33/00 |