G01Q 80/00

Definition

Diese Klassifikationsstelle umfasst:

Besondere Anwendungen von anderen Rastersondentechniken als der Rastersondenmikroskopie (SPM).

Querverweise

Einschränkende Querverweise

Diese Klassifikationsstelle umfasst nicht:

Herstellung oder Behandlung von Mikrostrukturen	B81C
Herstellung oder Behandlung von Nanostrukturen	B82B 3/00
Aufzeichnen oder Wiedergeben von Information unter Verwendung von Nahfeldwechselwirkungen	G11B 9/12, G11B 11/24, G11B 13/08

Informative Querverweise

Spezielle Rastersondenmikroskopie (SPM)-Techniken, Vorrichtungen hierfür oder Bestandteile hiervon, z. B. Sonden	G01Q 60/00
Allgemeine Aspekte zu SPM-Sonden	G01Q 70/00

G01Q 80/00

Definition Statement

This place covers:

Specific applications, different from SPM, of scanning-probe techniques.

References

Limiting references

This place does not cover:

Manufacture or treatment of microstructures	B81C
Manufacture or treatment of nanostructures	B82B 3/00
Recording or reproducing information using near-field interaction	G11B 9/12, G11B 11/24, G11B 13/08

Informative references

Specific SPM techniques, apparatus therefor or components thereof, e.g. probes	G01Q 60/00
General aspects of SPM probes	G01Q 70/00