Kraftmikroskopie (AFM) oder Geräte hierfür, bei welcher die zu überwachende Kraft eine durch die elektrische Potentialverteilung auf der Probenoberfläche beeinflusste elektrische Wechselwirkung ist, z. B. Kelvinsonden-Mikroskopie und Scanning Maxwell Stress Mikroskopie.
AFM or apparatus therefor wherein the force monitored is an electric interaction affected by the electric potential distribution on the sample surface, e.g. Kelvin probe microscopy and Scanning Maxwell stress microscopy.