Verfahren oder Geräte für die Rastersondenmikroskopie, bei welcher die überwachte Wechselwirkung die Abstoßungskraft mit kurzer Reichweite oder die Anziehungskraft mit langer Reichweite zwischen der Sonde und den Atomen der Probenoberfläche ist.
Methods or apparatus for SPM wherein the monitored interaction is the short range repulsive or long range attractive force between the probe and atoms of the sample surface.