Optische Rasternahfeldmikroskopie (SNOM) oder Geräte hierfür, bei welcher das zu überwachende Nahfeldlicht die Emissionsstrahlung von einer Probenoberfläche ist, welche durch eine elektromagnetische Welle angeregt wurde.
SNOM or apparatus therefor wherein the near-field light to be monitored is the emission radiation from a sample surface excited by an electromagnetic wave.