Verfahren oder Geräte mit zwei oder mehreren verschiedenen Wechselwirkungen zwischen der Rastersondenspitze und der Probenoberfläche, z. B. Hebelarm-artige (cantilever-type) Rastersondenmikroskope, außer Kraftmikroskopie (AFM)-Vorrichtungen, welche ausschließlich für die AFM-Betriebsart hergestellt wurden.
Die Vorrichtung kann entweder eine oder mehrere Sonden zum Ausführen verschiedener Arten von Rastersondenmikroskopie an der Probe umfassen.
| Vorrichtungen mit Arrays von Sondenspitzen mit gleichartiger Funktion | G01Q 70/06 |
Methods or apparatus involving two or more different types of interactions between the scanning probe tip and the sample surface, e.g. cantilever-type SPMs other than AFM which are explicitly built for AFM performances.
The device can contain either one probe or more than one probe to perform different types of SPM over the sample.
| Devices containing array of tips with similar performance function | G01Q 70/06 |