Rastersonden, d.h. Geräte mit mindestens einer Tastspitze in Nanometergröße, welche mit einem Abstand von einigen Nanometern die Oberfläche eines Gegenstandes scannt oder sich über diese bewegt, um einige Wechselwirkungen zwischen der Spitze und der Oberfläche zu überwachen, z.B. Überwachung der Erzeugung eines Tunnelstroms.
Techniken oder Geräte, die die Benutzung von Rastersonden mit einschließen.
Folgende Themen werden von der Unterklasse umfasst, wobei die Liste nicht abschließend ist:
In dieser Unterklasse ist die "Erste-Stellen-Vorrangregel" anzuwenden, d.h. in jeder Hierarchiestufe ist in die erste geeignete Stelle zu klassifizieren.
Scanning probes, i.e. devices having at least a tip of nanometre sized dimensions that scans or moves over an object surface, typically at a distance of a few angstroms or nanometres, monitoring some interaction between the tip and the surface, e.g. monitoring the generation of a tunnelling current.
Techniques or apparatus involving the use of scanning probes.
The following subjects are therefore covered, the list being non-exhaustive:
In this subclass, the first place priority rule is applied, i.e. at each hierarchical level, classification is made in the first appropriate place.