IPC-Stelle: G12B 17/00 [Version 2008.04]

SymbolTypTitel
GSKSektion G — Physik
G12KLEinzelheiten von Instrumenten
G12BUKLEinzelheiten von Instrumenten oder vergleichbare Einzelheiten anderer Geräte, soweit nicht anderweitig vorgesehen
G12B 1/00HGREmpfindliche Elemente zum Erzeugen von Bewegungen oder Verschiebungen für nicht auf Messungen beschränkte Zweckedamit verbundene mechanische Übertragungsvorrichtungen
G12B 1/02UGR1
.Verbundstreifen oder -platten, z.B. aus Bimetall (Thermometer mit Bimetallelementen G01K 5/62)
G12B 1/04UGR1
.Hohlkörper mit Teilen, die unter Druck verformbar oder verschiebbar sind, z.B. Bourdon-Rohre, Bälge (Bälge allgemein F16J 3/00)
G12B 3/00HGRBeeinflussen der Bewegung von Instrumententeilen, soweit nicht anderweitig vorgesehen (Einzelheiten von Geräten für rastersondenmikroskopische Methoden [scanning-probe techniques] G12B 21/00; Dämpfen von Stößen oder Schwingungen allgemein F16F; Auswuchten F16F 15/00; Prüfen der Unwucht G01M) [1, 7]
G12B 3/02UGR1
.Feststellen beweglicher Teile, d.h. Verriegeln bei Nichtgebrauch
G12B 3/04UGR1
.Aufhängungen (Lager F16C)
G12B 3/06UGR1
.Vermindern der Reibungswirkung, z.B. durch Schwingungen (durch Schmierung F16N)
G12B 3/08UGR1
.Abbremsen der Bewegung von Instrumententeilen, z.B. einer schnellen, nicht schwingenden Bewegung zum endgültigen Ablesestand
G12B 3/10UGR2
. .unter Verwendung von Wirbelströmen
G12B 5/00HGREinstellen der Lage oder Stellung, z.B. der Horizontallage, von Instrumenten, anderen Geräten oder deren Teilen (Nivellierinstrumente an sich G01C 9/00)Kompensieren der Kipp- oder Beschleunigungswirkung, z.B. für optische Geräte
G12B 7/00HGRKompensieren der Temperaturwirkung (durch Kühlen G12B 15/00)
G12B 9/00HGRGehäuse oder Abstützungen von Instrumenten oder anderen Geräten
G12B 9/02UGR1
.UmschließungenGehäuseSchränke (Dichtungsanordnungen für Übertragungsglieder F16J , insbesondere F16J 15/50)
G12B 9/04UGR2
. .Einzelheiten, z.B. Abdeckungen
G12B 9/06UGR3
. . .Metallgehäuse
G12B 9/08UGR1
.AbstützungenTragevorrichtungen
G12B 9/10UGR2
. .Instrumententafeln, -bretter, -pulte, -regale, -gestelle
G12B 11/00HGRAnzeigeelementederen Beleuchtung
G12B 11/02UGR1
.SkalenZifferblätter
G12B 11/04UGR1
.ZeigerStelleinrichtungen dafür
G12B 13/00HGREichen von Instrumenten oder Geräten (Eichen von Messinstrumenten G01)
G12B 15/00HGRKühlen (durch Kühlvorrichtungen, z.B. Kühlmittelumlauf F25D; Wärmeaustausch oder Wärmeübertragung allgemein F28F)
G12B 15/02UGR1
.durch Kühlmittelkreislaufsysteme
G12B 15/04UGR1
.durch offene Kühlmittelströme, z.B. Luft
G12B 15/06UGR1
.durch Berührung mit wärmeaufnehmenden oder -abstrahlenden Massen, z.B. Wärmeableitern
G12B 17/00HGRAbschirmen (Isolierung oder anderer Schutz von Gebäuden E04B; Schutz gegen Beschädigung von Geräten allgemein F16P 7/00; Schalldämmung G10K 11/00; Schutz gegen nukleare Strahlung G21F)
G12B 17/02UGR1
.gegen elektrische oder magnetische Felder, z.B. Radiowellen
G12B 17/04UGR1
.gegen ultraviolettes, sichtbares oder infrarotes Licht (Abschirmen von Beleuchtungskörpern F21V; optische Filter G02B 5/20)
G12B 17/06UGR1
.gegen Wärme (G12B 17/04 hat Vorrang; Kühlen G12B 15/00)
G12B 17/08UGR1
.gegen mechanische Einflüsse, z.B. verursacht durch Luftstöße, fremde Gegenstände oder Personen (G12B 17/02-G12B 17/06 haben Vorrang)
G12B 21/00HGREinzelheiten von Geräten für rastersondenmikroskopische Methoden [scanning-probe techniques] [7]
G12B 21/02UGR1
.Sonden [7]
G12B 21/04UGR2
. .Tunneleffektsonden [7]
G12B 21/06UGR2
. .Optische Nahfeldsonden [7]
G12B 21/08UGR2
. .Atomkraftsonden [7]
G12B 21/10UGR2
. .Magnetkraftsonden [7]
G12B 21/12UGR2
. .Elektrostatikkraftsonden [7]
G12B 21/20UGR1
.Abtast- oder Positionierungsanordnungen [7]
G12B 21/22UGR2
. .Bauliche Einzelheiten [7]
G12B 21/24UGR2
. .Kompensation von durch Temperatur oder Schwingung erzeugten Fehlern [7]