IPC-Stelle: G01Q [Version 2010.01]

SymbolTypTitel
GSKSektion G — Physik
G01USKInstrumente
G01KLMessen; Prüfen
G01QUKLRastersondentechniken oder Vorrichtungen hierfür; Anwendung von Rastersondentechniken, z.B. Rastersondenmikroskopie [Scanning-Probe Microscopy = SPM] [2010.01]
G01Q 10/00HGRAbtast- oder Positionieranordnungen, d.h. Anordnungen zur aktiven Steuerung der Bewegung oder der Position der Sonde [2010.01]
G01Q 10/02UGR1
.Grobes Abtasten (Scannen) oder Positionieren [2010.01]
G01Q 10/04UGR1
.Feines Abtasten (Scannen) oder Positionieren [2010.01]
G01Q 10/06UGR2
. .Schaltungen oder Algorithmen hierfür [2010.01]
G01Q 20/00HGRÜberwachung der Bewegung oder der Position der Sonde [2010.01]
G01Q 20/02UGR1
.durch optische Mittel [2010.01]
G01Q 20/04UGR1
.Selbst-detektierende Sonden, d.h. die Sonde selbst erzeugt ein für ihre Position repräsentatives Signal, z.B. piezoelektrische Sensoren [2010.01]
G01Q 30/00HGRHilfsmittel zur Unterstützung oder Verbesserung von Rastersondentechniken oder -vorrichtungen, z.B. Anzeige- oder Datenverarbeitungseinrichtungen [2010.01]
G01Q 30/02UGR1
.Nicht-SPM Analyseeinrichtungen, z.B. Rasterelektronenmikroskope [Scanning Electron Microscope = SEM], Spektrometer oder optische Mikroskope [2010.01]
G01Q 30/04UGR1
.Anzeige- oder Datenverarbeitungseinrichtungen [2010.01]
G01Q 30/06UGR2
. .zur Fehlerkompensation [2010.01]
G01Q 30/08UGR1
.Mittel zum Schaffen oder Einstellen einer gewünschten Umgebungsbedingung innerhalb einer Probenkammer [2010.01]
G01Q 30/10UGR2
. .thermische Umgebung [2010.01]
G01Q 30/12UGR2
. .fluide Umgebung [2010.01]
G01Q 30/14UGR3
. . .flüssige Umgebung [2010.01]
G01Q 30/16UGR2
. .Vakuumumgebung [2010.01]
G01Q 30/18UGR1
.Mittel zum Schützen oder Isolieren des Inneren einer Probenkammer vor äußeren Umgebungsbedingungen oder -einflüssen, z.B. Schwingungen oder elektromagnetischen Feldern [2010.01]
G01Q 30/20UGR1
.Vorrichtungen oder Verfahren für die Probenhandhabung [2010.01]
G01Q 40/00HGRKalibrierung, z.B. von Sonden [2010.01]
G01Q 40/02UGR1
.Kalibrierstandards und Verfahren zu deren Herstellung [2010.01]
G01Q 60/00HGRBesondere Arten der Rastersondenmikroskopie [SPM] oder Vorrichtungen hierfür; wesentliche Bestandteile hiervon [2010.01]
G01Q 60/02UGR1
.Kombinierte SPM-Methoden, die zwei oder mehr SPM-Techniken umfassen [2010.01]
G01Q 60/04UGR2
. .Rastertunnel-Mikroskopie [Scanning Tunnelling Microscopy = STM] in Kombination mit Kraftmikroskopie [Atomic Force Microscopy = AFM] [2010.01]
G01Q 60/06UGR2
. .optische Rasternahfeldmikroskopie [Scanning Near-field Optical Microscopy = SNOM] in Kombination mit Kraftmikroskopie [Atomic Force Microscopy = AFM] [2010.01]
G01Q 60/08UGR2
. .Magnetkraftmikroskopie [Magnetic Force Microscopy = MFM] in Kombination mit Kraftmikroskopie [Atomic Force Microscopy = AFM] [2010.01]
G01Q 60/10UGR1
.Rastertunnel-Mikroskopie [Scanning Tunnelling Microscopy = STM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. STM-Sonden [2010.01]
G01Q 60/12UGR2
. .Rastertunnel-Spektroskopie [Scanning Tunnelling Spectroscopy = STS] [2010.01]
G01Q 60/14UGR2
. .Rastertunnel-Potentiometrie [Scanning Tunnelling Potentiometry = STP] [2010.01]
G01Q 60/16UGR2
. .Sonden, deren Herstellung und zugehörige Geräte, z.B. Halterungen [2010.01]
G01Q 60/18UGR1
.optische Rasternahfeldmikroskopie [Scanning Near-Field Optical Microscopy = SNOM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. SNOM-Sonden [2010.01]
G01Q 60/20UGR2
. .Fluoreszenz [2010.01]
G01Q 60/22UGR2
. .Sonden, deren Herstellung und zugehörige Geräte, z.B. Halterungen [2010.01]
G01Q 60/24UGR1
.Kraftmikroskopie [Atomic Force Microscopy = AFM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. AFM-Sonden [2010.01]
G01Q 60/26UGR2
. .Reibungskraft-Mikroskopie [2010.01]
G01Q 60/28UGR2
. .Adhäsionskraft-Mikroskopie [2010.01]
G01Q 60/30UGR2
. .Potential-Rastermikroskopie [2010.01]
G01Q 60/32UGR2
. .AC-Modus [2010.01]
G01Q 60/34UGR3
. . .Tapping-Modus [2010.01]
G01Q 60/36UGR2
. .DC-Modus [2010.01]
G01Q 60/38UGR2
. .Sonden, deren Herstellung und zugehörige Geräte, z.B. Halterungen [2010.01]
G01Q 60/40UGR3
. . .Leitfähige Sonden [2010.01]
G01Q 60/42UGR3
. . .Funktionalisierung [2010.01]
G01Q 60/44UGR1
.Ionenleitfähigkeits-Rastermikroskopie [Scanning Ion-Conductance Microscopy = SICM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. SICM-Sonden [2010.01]
G01Q 60/46UGR1
.Kapazitätsrastermikroskopie [Scanning Capacitance Microscopy = SCM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. SCM-Sonden [2010.01]
G01Q 60/48UGR2
. .Sonden, deren Herstellung und zugehörige Geräte, z.B. Halterungen [2010.01]
G01Q 60/50UGR1
.Magnetkraftmikroskopie [Magnetic Force Microscopy = MFM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. MFM-Sonden [2010.01]
G01Q 60/52UGR2
. .Resonanz [2010.01]
G01Q 60/54UGR2
. .Sonden, deren Herstellung und zugehörige Geräte, z.B. Halterungen [2010.01]
G01Q 60/56UGR3
. . .Sonden mit magnetischer Beschichtung [2010.01]
G01Q 60/58UGR1
.thermische Rastermikroskopie [Scanning Thermal Microscopy = SThM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. SThM -Sonden [2010.01]
G01Q 60/60UGR1
.elektrochemische Rastermikroskopie [Scanning Electro-Chemical Microscopy = SECM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. SECM-Sonden [2010.01]
G01Q 70/00HGRAllgemeine Aspekte zu SPM-Sonden, deren Herstellung und zugehörigen Geräten, sofern sie nicht in besonderer Weise für eine einzelne der SPM-Techniken unter G01Q 60/00 ausgebildet sind [2010.01]
G01Q 70/02UGR1
.Sondenhalterungen [2010.01]
G01Q 70/04UGR2
. .mit Kompensation für temperatur- oder schwingungsinduzierte Fehler [2010.01]
G01Q 70/06UGR1
.Arrays von Sondenspitzen [2010.01]
G01Q 70/08UGR1
.Sondencharakteristik [2010.01]
G01Q 70/10UGR2
. .Form und Konizität [2010.01]
G01Q 70/12UGR3
. . .Nanoröhrchen-Spitzen [2010.01]
G01Q 70/14UGR2
. .besondere Materialien [2010.01]
G01Q 70/16UGR1
.Sondenherstellung [2010.01]
G01Q 70/18UGR2
. .Funktionalisierung [2010.01]
G01Q 80/00HGRAnwendungen von anderen Rastersondentechniken als SPM  (Herstellung oder Behandlung von Mikrostrukturen B81C; Herstellung oder Behandlung von Nanostrukturen B82B 3/00; Aufzeichnen oder Wiedergabe von Information mittels Nahfeldwechselwirkung G11B 9/12, G11B 11/24 oder G11B 13/08) [2010.01]
G01Q 90/00HGRRastersondentechniken und -vorrichtungen soweit nicht anderweitig vorgesehen [2010.01]