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A
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Sektion A — Täglicher Lebensbedarf
B
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Sektion B — Arbeitsverfahren; Transportieren
C
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Sektion C — Chemie; Hüttenwesen
D
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Sektion D — Textilien; Papier
E
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Sektion E — Bauwesen; Erdbohren; Bergbau
F
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Sektion F — Maschinenbau; Beleuchtung; Heizung; Waffen; Sprengen
G
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Sektion G — Physik
G01
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Instrumente
G01
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Messen (Zählen G06M)Prüfen
G02
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Optik (Herstellung optischer Elemente oder Geräte B24B , B29D 11/00 , C03 oder andere geeignete Unterklassen oder Klassen; Materialien an sich, siehe die zuständigen Stellen, z.B. C03B , C03C)
G03
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FotografieKinematografievergleichbare Techniken unter Verwendung von nicht optischen WellenElektrografieHolografie (Aufzeichnen durch Abtasten und Umwandeln in elektrische Signale H04N) [4]
G04
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Zeitmessung
G05
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SteuernRegeln
G06
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DatenverarbeitungRechnenZählen (Zählvorrichtungen für Spiele A63B 71/06 , A63D 15/20 , A63F 1/18; Kombinationen von Schreibgeräten mit Rechenvorrichtungen B43K 29/08)
G07
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Kontrollvorrichtungen
G08
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Signalwesen (Anzeige- oder Sichtvorrichtungen an sich G09F; Übertragung von Bildern H04N)
G09
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UnterrichtGeheimschriftAnzeigeReklameSiegel
G10
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MusikinstrumenteAkustik
G11
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Informationsspeicherung
G12
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Einzelheiten von Instrumenten
G12B
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Einzelheiten von Instrumenten oder vergleichbare Einzelheiten anderer Geräte, soweit nicht anderweitig vorgesehen
G12B 1/00
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Empfindliche Elemente zum Erzeugen von Bewegungen oder Verschiebungen für nicht auf Messungen beschränkte Zweckedamit verbundene mechanische Übertragungsvorrichtungen
G12B 3/00
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Beeinflussen der Bewegung von Instrumententeilen, soweit nicht anderweitig vorgesehen (Einzelheiten von Geräten für rastersondenmikroskopische Methoden [scanning-probe techniques] G12B 21/00; Dämpfen von Stößen oder Schwingungen allgemein F16F; Auswuchten F16F 15/00; Prüfen der Unwucht G01M) [1, 7]
G12B 5/00
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Einstellen der Lage oder Stellung, z.B. der Horizontallage, von Instrumenten, anderen Geräten oder deren Teilen (Nivellierinstrumente an sich G01C 9/00)Kompensieren der Kipp- oder Beschleunigungswirkung, z.B. für optische Geräte
G12B 7/00
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Kompensieren der Temperaturwirkung (durch Kühlen G12B 15/00)
G12B 9/00
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Gehäuse oder Abstützungen von Instrumenten oder anderen Geräten
G12B 11/00
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Anzeigeelementederen Beleuchtung
G12B 13/00
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Eichen von Instrumenten oder Geräten (Eichen von Messinstrumenten G01)
G12B 15/00
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Kühlen (durch Kühlvorrichtungen, z.B. Kühlmittelumlauf F25D; Wärmeaustausch oder Wärmeübertragung allgemein F28F)
G12B 17/00
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Abschirmen (Isolierung oder anderer Schutz von Gebäuden E04B; Schutz gegen Beschädigung von Geräten allgemein F16P 7/00; Schalldämmung G10K 11/00; Schutz gegen nukleare Strahlung G21F)
G12B 21/00
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Einzelheiten von Geräten für rastersondenmikroskopische Methoden [scanning-probe techniques] [7]
G12B 21/02
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Sonden [7]
G12B 21/04
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. . Tunneleffektsonden [7]
G12B 21/06
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. . Optische Nahfeldsonden [7]
G12B 21/08
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. . Atomkraftsonden [7]
G12B 21/10
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. . Magnetkraftsonden [7]
G12B 21/12
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. . Elektrostatikkraftsonden [7]
G12B 21/20
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Abtast- oder Positionierungsanordnungen [7]
G12B 21/22
Hierarchie anzeigen
. . Bauliche Einzelheiten [7]
G12B 21/24
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. . Kompensation von durch Temperatur oder Schwingung erzeugten Fehlern [7]
G21
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Kernphysik
G21
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KernphysikKerntechnik
G99
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Sachverhalte, soweit nicht anderweitig in dieser Sektion vorgesehen [2006.01]
H
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Sektion H — Elektrotechnik

Zu vergleichende IPC-Stelle: Es wurden im Verzeichnis noch keine IPC-Stellen für die Vergleichsansicht vorgemerkt. [Version , Sprache ]