Bibliografische Daten

Dokument US020140232417A1 (Seiten: 11)

Bibliografische Daten Dokument US020140232417A1 (Seiten: 11)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [EN] ELECTRICAL MEASURING SYSTEM
71/73 Anmelder/Inhaber PA FRIEDRICH ALEXANDER UNIVERSIATAET ERLANGEN NRERNBERG, DE ; SIEDLE HORST GMBH & CO KG, DE ; UNIV FRIEDRICH ALEXANDER ER, DE
72 Erfinder IN BARBON FRANCESCO, DE ; DINGLER PETER, DE ; HALDER ERNST, DE ; KLPIN ALEXANDER, DE ; LINDNER STEFAN, DE ; MANN SEBASTIAN, DE ; VINCI GABOR, DE
22/96 Anmeldedatum AD 11.02.2014
21 Anmeldenummer AN 201414177672
Anmeldeland AC US
Veröffentlichungsdatum PUB 21.08.2014
33
31
32
Priorität PRC
PRN
PRD
DE
102013202765
20130220
51 IPC-Hauptklasse ICM G01S 13/02 (2006.01)
51 IPC-Nebenklasse ICS
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation G01F 23/284 G01F 23/284
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation G01S 13/88 G01S 13/88
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation G01S 13/08 G01S 13/08
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation G01S 13/02 G01S 13/02
MCD-Hauptklasse MCM G01S 13/02 (2006.01)
MCD-Nebenklasse MCS
MCD-Zusatzklasse MCA
57 Zusammenfassung AB [EN] A measuring system is described which includes a sensor for receiving an electromagnetic wave and a guide component for guiding the electromagnetic wave. The guide component is embodied as an elongated, preferably metal, profile component which contains, in a longitudinal direction, a slot for guiding the electromagnetic wave.
Korrekturinformation KORRINF
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT
US000004375057A
US020090309012A1
US020100066387A1
US020110105019A1
US020120056778A1
US020120323503A1
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP Microtech, Inc; Manufacturers Precision Microwave Components Cheshire, CT U.S.A.; Date :October 21, 2003. 9
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP
Zitierende Dokumente Dokumente ermitteln
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP G01S 13/02 ; G01S 13/08 ; G01S 13/88