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Titel |
TI |
[DE] Schaltungsanordnung zur Überwachung des Potentialpegels auf elektrischen Leitern [EN] Monitoring circuitry for potential level on electrical conductors - has one or more comparators with controllable hysteresis shifted by delay element |
71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Siemens AG, 8000 München, DE
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72 |
Erfinder |
IN |
Schrabal, Gerhard, 8000 München, DE
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22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
13.08.1991 |
21 |
Anmeldenummer |
AN |
4126740 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
12.03.1992 |
33 31 32 |
Priorität |
PRC PRN PRD |
EP
90117013
19900904
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51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01R 19/165
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51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01R 19/0038
G01R 19/16585
H03K 3/013
H03K 3/02337
H03K 5/1252
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G01R 19/00
(2006.01)
G01R 19/165
(2006.01)
H03K 3/013
(2006.01)
H03K 3/0233
(2006.01)
H03K 5/1252
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Schaltungsanordnung zur Überwachung des Potentialpegels auf elektrischen Leitern, bestehend aus einem Komparator mit Schalthysterese und einem diesem Komparator nachgeschalteten Verzögerungsglied, die derart ausgestaltet ist, daß die Schalthysterese des Komparators steuerbar ist und daß die Schaltschwelle des Komparators in Abhängigkeit vom Ausgangssignal des Verzögerungsgliedes verschoben wird. [EN] A circuit for monitoring the potential level on electrical conductors contains a comparator with controllable switching hysteresis and a delay element connected after the comparator. The comparator's switching threshold is shifted according to the output of the delay element. Alternatively, the circuit can contain at least two comparators (ST1a-ST1n) whose outputs are each connected to an input of a logical combination circuit (AND1) which drives a delay element (VG). Each comparator's threshold is shifted according to the output signals of the comparator and of the delay element. ADVANTAGE - Can respond to potential changes. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate, in Recherche ermittelt |
CT |
CH000000668871A DE000003225800C1 EP000000143111A1 EP000000243634A1 US000004549099A
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56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate, vom Anmelder genannt |
CT |
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56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate, in Recherche ermittelt |
CTNP |
"Linear Integrated Circuits Databook" Unitrode IC500, Unitrode Corp. USA p 0; Tietze/Schenk, "Halbleiterschaltungs- technik", 5. Aufl., 1980, S. 411-418 p 0
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56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate, vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01R 19/165 PS
H03K 5/1252
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