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Titel |
TI |
[DE] Verfahren zur Bestimmung der elektrischen Leitfähigkeit von Proben, insbesondere zur Anwendung bei hohen Temperaturen |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Moos, Ralf, Prof. Dr.-Ing., 95447, Bayreuth, DE
;
Wang, Rui, 95447, Bayreuth, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Moos, Ralf, Prof.Dr.-Ing., 95447, Bayreuth, DE
;
Wang, Rui, 95447, Bayreuth, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
08.01.2021 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102021000066 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
14.07.2022 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01R 27/00
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01N 27/041
G01R 27/14
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01R 27/00
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Verfahren zur Bestimmung der elektrischen Leitfähigkeit einer Probe willkürlicher Geometrie, dadurch gekennzeichnet, dass auf der Probe Elektroden ohne spezielle und/oder genau definierte Geometrie aufgebracht sind und dass die Geometrie von Probe und Elektroden mit einem geeigneten Verfahren, z.B. mit einem 3D-Scanning-Verfahren oder einer Tomographie, bestimmt werden und dass ein 3D-Modell der Probe einschließlich der Elektroden erstellt wird, wobei die Elektroden als Äquipotentialbereiche definiert sind, und dass ein Formfaktor aus dem abgeleiteten 3D-Modell mit Hilfe eines Finite-Elemente (FE)-Software-Tools berechnet wird, und dass aus der Bestimmung eines Widerstandes (z.B. durch Anlegen eines Stromes und einer Spannung) die Leitfähigkeit aus dem Widerstand und dem abgeleiteten Formfaktor berechnet wird. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01R 27/00
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