Bibliografische Daten

Dokument DE102021000066A1 (Seiten: 11)

Bibliografische Daten Dokument DE102021000066A1 (Seiten: 11)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] Verfahren zur Bestimmung der elektrischen Leitfhigkeit von Proben, insbesondere zur Anwendung bei hohen Temperaturen
71/73 Anmelder/Inhaber PA Moos, Ralf, Prof. Dr.-Ing., 95447, Bayreuth, DE ; Wang, Rui, 95447, Bayreuth, DE
72 Erfinder IN Moos, Ralf, Prof.Dr.-Ing., 95447, Bayreuth, DE ; Wang, Rui, 95447, Bayreuth, DE
22/96 Anmeldedatum AD 08.01.2021
21 Anmeldenummer AN 102021000066
Anmeldeland AC DE
Veröffentlichungsdatum PUB 14.07.2022
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32
Priorität PRC
PRN
PRD


51 IPC-Hauptklasse ICM G01R 27/00 (2006.01)
51 IPC-Nebenklasse ICS
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation G01R 27/14 G01R 27/14
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation G01N 27/041 G01N 27/041
MCD-Hauptklasse MCM G01R 27/00 (2006.01)
MCD-Nebenklasse MCS
MCD-Zusatzklasse MCA
57 Zusammenfassung AB [DE] Verfahren zur Bestimmung der elektrischen Leitfhigkeit einer Probe willkrlicher Geometrie, dadurch gekennzeichnet, dass auf der Probe Elektroden ohne spezielle und/oder genau definierte Geometrie aufgebracht sind und dass die Geometrie von Probe und Elektroden mit einem geeigneten Verfahren, z.B. mit einem 3D-Scanning-Verfahren oder einer Tomographie, bestimmt werden und dass ein 3D-Modell der Probe einschlielich der Elektroden erstellt wird, wobei die Elektroden als quipotentialbereiche definiert sind, und dass ein Formfaktor aus dem abgeleiteten 3D-Modell mit Hilfe eines Finite-Elemente (FE)-Software-Tools berechnet wird, und dass aus der Bestimmung eines Widerstandes (z.B. durch Anlegen eines Stromes und einer Spannung) die Leitfhigkeit aus dem Widerstand und dem abgeleiteten Formfaktor berechnet wird.
Korrekturinformation KORRINF
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP
Zitierende Dokumente Dokumente ermitteln
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP G01R 27/00