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Titel |
TI |
[DE] Verfahren zur optischen (Nach-)Behandlung von mittels aerosolbasierter Kaltabscheidung hergestellten Beschichtungen |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Exner, Jörg, Dr.-Ing., 95445, Bayreuth, DE
;
Glosse, Philipp, M.Sc., 95445, Bayreuth, DE
;
Hanft, Dominik, Dipl.-Ing. , 95447, Bayreuth, DE
;
Kita, Jaroslaw, Dr.-Ing., 95482, Gefrees, DE
;
Leupold, Nico, M.Sc., 95233, Helmbrechts, DE
;
Moos, Ralf, Prof. Dr.-Ing., 95447, Bayreuth, DE
;
Nazarenus, Tobias, Dipl.-Ing., 95447, Bayreuth, DE
;
Nieke, Philipp, M.Sc., 09131, Chemnitz, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Exner, Jörg, Dr.-Ing., 95447, Bayreuth, DE
;
Glosse, Philipp, M.Sc., 95445, Bayreuth, DE
;
Hanft, Dominik, Dipl.-Ing., 95447, Bayreuth, DE
;
Kita, Jaroslaw, Dr.-Ing., 95482, Gefrees, DE
;
Leupold, Nico, M.Sc., 95233, Helmbrechts, DE
;
Moos, Ralf, Prof. Dr.-Ing., 95447, Bayreuth, DE
;
Nazarenus, Tobias, Dipl.-Ing., 95447, Bayreuth, DE
;
Nieke, Philipp, M.Sc., 09131, Chemnitz, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
20.11.2019 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102019008041 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
02.06.2021 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
B05D 3/06
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
C23C 24/04
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
B05D 3/06
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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Zusammenfassung |
AB |
[DE] Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur gezielten Einstellung von optischen, mechanischen und elektrischen Eigenschaften mittels aerosolbasierter Kaltabscheidung hergestellter Schichten, dergestalt, dass mit einer optischen Quelle nach dem Beschichtungsprozess unterhalb der späteren Einsatztemperatur gezielt Energie in die Schicht eingebracht werden kann.Die Verwendung optischer Quellen ermöglicht eine effiziente Möglichkeit zur Einstellung der Schichteigenschaften, aber auch bisher nicht mögliche Kombinationen aus Beschichtungs- und Substratmaterial. Die einzubringende Energie ist dabei von den verwendeten Materialien sowie der späteren Anwendung abhängig. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
B05D 3/06
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