Bibliografische Daten

Dokument DE102018108110B3 (Seiten: 9)

Bibliografische Daten Dokument DE102018108110B3 (Seiten: 9)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] Optischer bergang zwischen zwei optischen Schichtwellenleitern und Verfahren zum bertragen von Licht
71/73 Anmelder/Inhaber PA Universitt Paderborn, 33098, Paderborn, DE
72 Erfinder IN Ebers, Lena, 59590, Geseke, DE ; Frstner, Jens, Prof., 44789, Bochum, DE ; Hammer, Manfred, 33824, Werther, DE
22/96 Anmeldedatum AD 05.04.2018
21 Anmeldenummer AN 102018108110
Anmeldeland AC DE
Veröffentlichungsdatum PUB 31.01.2019
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Priorität PRC
PRN
PRD


51 IPC-Hauptklasse ICM G02B 6/26 (2006.01)
51 IPC-Nebenklasse ICS G02B 6/12 (2006.01)
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation G02B 2006/12147 G02B 2006/12147
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation G02B 6/122 G02B 6/122
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation G02B 2006/12061 G02B 2006/12061
MCD-Hauptklasse MCM G02B 6/26 (2006.01)
MCD-Nebenklasse MCS G02B 6/12 (2006.01)
MCD-Zusatzklasse MCA
57 Zusammenfassung AB [DE] Die Erfindung betrifft einen optischen bergang zwischen zwei optischen Schichtwellenleitern. Dazu ist eine Anordnung vorgesehen aus einem ersten optischen Schichtwellenleiter (2) und einem zweiten optischen Schichtwellenleiter (3), wobei der erste optische Schichtwellenleiter (2) und der zweite optische Schichtwellenleiter (3) voneinander verschiedene ber ihre jeweilige Lnge konstante Dicken (d, r) aufweisen, der erste optische Schichtwellenleiter (2) mit dem zweiten optischen Schichtwellenleiter (3) mittels einer optischen Schichtwellenleiterstruktur (4) verbunden ist, die ber ihre gesamte Lnge (w) eine Dicke (h) aufweist, die zwischen der Dicke (d) des ersten optischen Schichtwellenleiters (2) und der Dicke (r) des zweiten optischen Schichtwellenleiters (3) liegt. Erfindungsgem ist die Dicke (h) der optischen Schichtwellenleiterstruktur (4) ber die gesamte Lnge (w) der optischen Schichtwellenleiterstruktur (4) konstant. Damit wird eine Mglichkeit fr einen effizienten und mit geringen Verlusten behafteten bergang zwischen zwei optischen Schichtwellenleitern mit unterschiedlicher Dicke bereitgestellt.
Korrekturinformation KORRINF
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP CIVITCI, Fehmi; HAMMER, Manfred; HOEKSTRA, Hugo J.W.M.: Semi-guided plane wave reflection by thin-film transitions for angled incidence. In: Optical and Quantum Electronics, Bd. 46, 2014, H. 3, S. 477-490. ISSN 1572-817X (E); 0030-4077 (P). DOI: 10.1007/s11082-013-9789-7. URL: https://link.springer.com/content/pdf/10.1007%2Fs11082-013-9789-7.pdf [abgerufen am 17.09.2018]. p 0;
HAMMER, Manfred: Oblique incidence of semi-guided waves on rectangular slab waveguide discontinuities: A vectorial QUEP solver. In: Optics Communications, Bd. 338, 2015, S. 447-456. ISSN 1873-0310 (E); 0030-4018 (P). DOI: 10.1016/j.optcom.2014.09.087. URL: https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0030401814009341/pdfft?md5=12b1a916f644af23ad95e499a344ad28&pid=1-s2.0-S0030401814009341-main.pdf [abgerufen am 17.09.2018]. p 0
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP Hammer, Manfred „Oblique incidence of semi-guided waves on rectangular slab waveguide discontinuities: A vectorial QUEP solver.“ in: Optics communications, Vol. 338, 01.03.2015, S. 447-456 1;
ivitci, F.; Hammer, Manfred; Hoekstra, Hugo „Semi-guided plane wave reflection by thin-film transitions for angled incidence“ in: Optical and quantum electronics, Vol. 46, Nr. 3, 2014, S. 477-490 1
Zitierende Dokumente Dokumente ermitteln
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP G02B 6/26