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Titel |
TI |
[DE] Verfahren zur Beladungs- und/oder Zustanderkennung von Abgasnachbehandlungs-Komponenten mit Hilfe von Mikrowellen |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Dietrich, Markus, Dr.-Ing., 95447, Bayreuth, DE
;
Feulner, Markus, Dr.-Ing., 95444, Bayreuth, DE
;
Hagen, Gunter, Dr.-Ing., 95131, Schwarzenbach a Wald, DE
;
Moos, Ralf, Prof. Dr. Ing., 95447, Bayreuth, DE
;
Rauch, Dieter, Dr.-Ing., 95448, Bayreuth, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Dietrich, Markus, Dipl.-Ing., 95447, Bayreuth, DE
;
Feulner, Markus, Dipl.-Ing., 95444, Bayreuth, DE
;
Hagen, Gunter, Dr.-Ing., 95131, Schwarzenbach a Wald, DE
;
Moos, Ralf, Prof. Dr.-Ing., 95447, Bayreuth, DE
;
Rauch, Dieter, Dipl.-Ing., 95448, Bayreuth, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
18.05.2015 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102015006232 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
24.11.2016 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
F01N 11/00
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
G01N 22/02
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
F01N 11/00
F01N 2550/02
F01N 2550/04
F01N 2560/12
F01N 2560/14
F01N 2900/1606
G01N 22/00
Y02T 10/40
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
F01N 11/00
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G01N 22/02
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Zustands- und/oder Beladungserkennung von Abgasnachbehandlungs-Komponenten mit Hilfe von Mikrowellen, dadurch gekennzeichnet, dass Funkwellen (20, 42) mittels einer Empfangs- und Durchleitungs- und Einspeisevorrichtung (22) aufgenommen und in den Abgaskatalysator oder -filter geleitet werden und das ausgeleitete Signal (26), mit dem separat aufgenommenen Signal (20) oder dem ausgesendeten Signal (42) verglichen wird und aus dem Vergleich auf den Zustand und/oder die Beladung der untersuchten Abgasnachbehandlungs-Komponenten geschlossen wird. Durch den Einsatz der Erfindung wird die mikrowellenbasierte Katalysatorzustandserkennung verbessert. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
DE000010358495A1
DE102008012050A1
DE102009039929A1
DE102010034983A1
DE102011018226A1
DE102011107784A1
US020130127478A1
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
F01N 11/00
G01N 22/02
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