Bibliografische Daten

Dokument DE102014220615A1 (Seiten: 13)

Bibliografische Daten Dokument DE102014220615A1 (Seiten: 13)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] Verfahren zur Bestimmung einer Stromtragfhigkeit eines passiven Bauteils
71/73 Anmelder/Inhaber PA Conti Temic microelectronic GmbH, 90411, Nrnberg, DE
72 Erfinder IN Beart, Karin, 91207, Lauf, DE ; Eckardt, Saskia, 90427, Nrnberg, DE ; Kita, Jaroslaw, Dr., 95447, Bayreuth, DE ; Moos, Ralf, Prof., 95447, Bayreuth, DE ; Ortolino, Dominique, Dr., 95445, Bayreuth, DE ; Pletsch, Andreas, 91239, Henfenfeld, DE ; Schiller, Uwe, 91413, Neustadt, DE ; Wurm, Roland, 91161, Hilpoltstein, DE
22/96 Anmeldedatum AD 10.10.2014
21 Anmeldenummer AN 102014220615
Anmeldeland AC DE
Veröffentlichungsdatum PUB 14.04.2016
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Priorität PRC
PRN
PRD


51 IPC-Hauptklasse ICM G01R 31/28 (2006.01)
51 IPC-Nebenklasse ICS G01R 31/02 (2006.01)
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation G01R 31/2813 G01R 31/2813
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation G01R 31/58 G01R 31/58
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation G01R 31/2801 G01R 31/2801
MCD-Hauptklasse MCM G01R 31/28 (2006.01)
MCD-Nebenklasse MCS G01R 31/02 (2006.01)
MCD-Zusatzklasse MCA
57 Zusammenfassung AB [DE] Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung einer Stromtragfhigkeit mindestens eines passiven Bauteils, bei dem fr eine vorgegebene Zeitdauer mindestens ein elektrischer Strom (I) in eine elektrisch leitfhige Schicht (1.1) des passiven Bauteils eingeprgt wird. Dabei ist vorgesehen, dass – fr den elektrischen Strom (I) eine Stromstrke vorgegeben wird, bei der sich zumindest die elektrisch leitfhige Schicht (1.1) erwrmt, und – zumindest ein zeitlicher Widerstandsverlauf (R(t)) des passiven Bauteils whrend der Stromeinprgung erfasst wird und daraus resultierend eine relative Widerstandsnderung (&Dgr;R/R0) des passiven Bauteils ermittelt wird, wobei anhand eines Anstiegs (m) der relativen Widerstandsnderung (&Dgr;R/R0) in Abhngigkeit eines vorgegebenen Parameters eine voraussichtliche Stromtragfhigkeit des passiven Bauteils bestimmt wird.
Korrekturinformation KORRINF
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT
US000004739258A
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP Voldman S. et al.: High-Current Transmission Line Pulse Characterization of Aluminum and Copper Interconnects for Advanced CMOS Semiconductor Technologies. In: IEEE International Reliability Physics Symposium, 36th Annual Proceedings, 1998, Seiten 293-301. - ISSN 0-7803-4400-6 p 0
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP
Zitierende Dokumente Dokumente ermitteln
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP G01R 31/02 ; G01R 31/28