Bibliografische Daten

Dokument DE102008041972A1 (Seiten: 6)

Bibliografische Daten Dokument DE102008041972A1 (Seiten: 6)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] Verfahren zur Faltenreduktion
71/73 Anmelder/Inhaber PA Beiersdorf AG, 20253 Hamburg, DE
72 Erfinder IN Blatt, Thomas, Dr., 22880 Wedel, DE ; Heuser, Stefan, Dr., 20251 Hamburg, DE ; Hoffmann, Nils, Dr., 22303 Hamburg, DE ; Horton, Margaret, Dr., 20257 Hamburg, DE ; Jaspers, Sren, 22869 Schenefeld, DE ; Kolbe, Ludger, Dr., 21255 Dohren, DE ; Scherner, Cathrin, Dr., 22851 Norderstedt, DE
22/96 Anmeldedatum AD 10.09.2008
21 Anmeldenummer AN 102008041972
Anmeldeland AC DE
Veröffentlichungsdatum PUB 11.03.2010
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31
32
Priorität PRC
PRN
PRD
DE
102007043698
20070913
51 IPC-Hauptklasse ICM A61M 35/00 (2006.01)
51 IPC-Nebenklasse ICS A61K 8/02 (2006.01)
A61K 8/30 (2006.01)
A61Q 19/08 (2006.01)
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation A61M 2202/0468 A61M 2202/0468
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation A61B 5/442 A61B 5/442
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation A61M 11/005 A61M 11/005
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation A61M 11/06 A61M 11/06
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation A61M 2205/3306 A61M 2205/3306
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation A61M 2205/50 A61M 2205/50
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation A61M 15/025 A61M 15/025
MCD-Hauptklasse MCM A61M 35/00 (2006.01)
MCD-Nebenklasse MCS A61K 8/02 (2006.01)
A61K 8/30 (2006.01)
A61Q 19/08 (2006.01)
MCD-Zusatzklasse MCA
57 Zusammenfassung AB [DE] Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur selektiven Applikation von kosmetischen oder pharmazeutischen Formulierungen auf die Haut sowie einen selektiven Produktapplikator fr kosmetische oder pharmazeutische Formulierungen.
Korrekturinformation KORRINF
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT
DE102007043698A1
EP000001295253B1
WO002001023850A1
WO002008098235A2
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT
US020060016999A1
WO002002087681A2
WO002004039255A1
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP
Zitierende Dokumente Dokumente ermitteln
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP A61K 8/02 ; A61K 8/30 ; A61K 8/33 ; A61M 35/00 ; A61Q 19/08 ; G01N 21/25