Bibliografische Daten

Dokument DE102008041972A1 (Seiten: 6)

Bibliografische Daten Dokument DE102008041972A1 (Seiten: 6)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] Verfahren zur Faltenreduktion
71/73 Anmelder/Inhaber PA Beiersdorf AG, 20253 Hamburg, DE
72 Erfinder IN Blatt, Thomas, Dr., 22880 Wedel, DE ; Heuser, Stefan, Dr., 20251 Hamburg, DE ; Hoffmann, Nils, Dr., 22303 Hamburg, DE ; Horton, Margaret, Dr., 20257 Hamburg, DE ; Jaspers, Sren, 22869 Schenefeld, DE ; Kolbe, Ludger, Dr., 21255 Dohren, DE ; Scherner, Cathrin, Dr., 22851 Norderstedt, DE
22/96 Anmeldedatum AD 10.09.2008
21 Anmeldenummer AN 102008041972
Anmeldeland AC DE
Veröffentlichungsdatum PUB 11.03.2010
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31
32
Priorität PRC
PRN
PRD
DE
102007043698
20070913
51 IPC-Hauptklasse ICM A61M 35/00 (2006.01)
51 IPC-Nebenklasse ICS A61K 8/02 (2006.01)
A61K 8/30 (2006.01)
A61Q 19/08 (2006.01)
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation A61M 2205/50 A61M 2205/50
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation A61M 11/005 A61M 11/005
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation A61M 2202/0468 A61M 2202/0468
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation A61M 15/025 A61M 15/025
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation A61M 2205/3306 A61M 2205/3306
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation A61M 11/06 A61M 11/06
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation A61B 5/442 A61B 5/442
MCD-Hauptklasse MCM A61M 35/00 (2006.01)
MCD-Nebenklasse MCS A61K 8/02 (2006.01)
A61K 8/30 (2006.01)
A61Q 19/08 (2006.01)
MCD-Zusatzklasse MCA
57 Zusammenfassung AB [DE] Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur selektiven Applikation von kosmetischen oder pharmazeutischen Formulierungen auf die Haut sowie einen selektiven Produktapplikator fr kosmetische oder pharmazeutische Formulierungen.
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT
DE102007043698A1
EP000001295253B1
WO002001023850A1
WO002008098235A2
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT
US020060016999A1
WO002002087681A2
WO002004039255A1
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP
Zitierende Dokumente Dokumente ermitteln
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP A61K 8/02 ; A61K 8/30 ; A61K 8/33 ; A61M 35/00 ; A61Q 19/08 ; G01N 21/25