Bibliografische Daten

Dokument DE102008013066B3 (Seiten: 21)

Bibliografische Daten Dokument DE102008013066B3 (Seiten: 21)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] Vorrichtung zur zweidimensionalen Abbildung von Szenen durch Mikrowellen-Abtastung und Verwendung der Vorrichtung
71/73 Anmelder/Inhaber PA Deutsches Zentrum fr Luft- und Raumfahrt e.V., 51147 Kln, DE
72 Erfinder IN Berthel, Dominik, 97357 Prichsenstadt, DE ; Dill, Stephan, 80339 Mnchen, DE ; Jirousek, Matthias, 82319 Starnberg, DE ; Peichl, Markus, Dr., 82131 Gauting, DE
22/96 Anmeldedatum AD 06.03.2008
21 Anmeldenummer AN 102008013066
Anmeldeland AC DE
Veröffentlichungsdatum PUB 01.10.2009
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Priorität PRC
PRN
PRD


51 IPC-Hauptklasse ICM H01Q 3/12 (2006.01)
51 IPC-Nebenklasse ICS G01S 13/89 (2006.01)
H01Q 19/19 (2006.01)
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation G01S 13/426 G01S 13/426
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation H01Q 3/20 H01Q 3/20
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation H01Q 3/16 H01Q 3/16
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation G01S 13/89 G01S 13/89
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation H01Q 3/10 H01Q 3/10
MCD-Hauptklasse MCM H01Q 3/12 (2006.01)
MCD-Nebenklasse MCS G01S 13/89 (2006.01)
H01Q 19/19 (2006.01)
MCD-Zusatzklasse MCA
57 Zusammenfassung AB [DE] Zur zweidimensionalen Szenenabbildung durch kontinuierliche, passive oder aktive Mikrowellen-Abtastung dient eine vollmechanische Richtantennenanordnung mit Hauptreflektor (1), Primrstrahleranordnung (3) und einem relativ zum Hauptreflektor klein bemessenen Subreflektor (2), der bezglich der optischen Achse (7) der Richtantennenanordnung geneigt ist. Erste Antriebsmittel (8) sorgen fr eine Rotation des Subreflektors um die optische Achse und zweite Antriebsmittel (17, 18) fr eine Bewegung der gesamten Richtantennenanordnung in einer Richtung zumindest angenhert senkrecht zur optischen Achse. Die Bewegungsgeschwindigkeit des Subreflektors ist zu derjenigen der gesamten Richtantennenanordrm, Primrstrahler, Abstand Primrstrahler-Subreflektor und Abstand Subreflektor-Hauptreflektor sind als Fokussierungsparameter so aufeinander abgestieine optimale Fokussierung und Gesichtsfeldgre einstellt. Die Fokussierungsparameter und die Bewegungsgeschwindigkeiten der beiden Antriebsmittel sind so eingestellt, dass sich eine lckenlose kontinuierliche Szenenabtastung durch den sich im Szenenabstand bewegenden Fokussierungsfleck (12) ergibt. Anwendung bei Fernerkundung, insbesondere Erdbeobachtung und Sicherheitstechnik.
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT
EP000000002982A1
EP000000514886A1
US000006943742B2
WO002005017559A2
WO002005085903A1
WO002007028472A1
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP MARTIN, C.A. et al.: High-resolution passive millimeter-wave security screening using few amplifiers. In: Proc. SPIE, Vol. 6548, 654806 (2007), S. 1-10 p 0
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP
Zitierende Dokumente Dokumente ermitteln
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP G01S 13/89 ; H01Q 3/10 ; H01Q 3/12 ; H01Q 3/16 ; H01Q 3/20 ; H01Q 19/19