Bibliografische Daten

Dokument DE102004021425A1 (Seiten: 17)

Bibliografische Daten Dokument DE102004021425A1 (Seiten: 17)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] Verwendung photokatalytischer TiO2-Schichten zur Funktionalisierung von Substraten
71/73 Anmelder/Inhaber PA Institut fr Neue Materialien gemeinntzige GmbH, 66123 Saarbrcken, DE
72 Erfinder IN Akarsu, Murat, 66111 Saarbrcken, DE ; Bolz, Henning, 66578 Schiffweiler, DE ; Moh, Karsten, 66125 Saarbrcken, DE ; Mller, Thomas, 66540 Neunkirchen, DE ; Naumann, Matthias, 66117 Saarbrcken, DE ; Schmidt, Helmut, 66130 Saarbrcken, DE
22/96 Anmeldedatum AD 30.04.2004
21 Anmeldenummer AN 102004021425
Anmeldeland AC DE
Veröffentlichungsdatum PUB 24.11.2005
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31
32
Priorität PRC
PRN
PRD


51 IPC-Hauptklasse ICM B05D 7/24
51 IPC-Nebenklasse ICS A01N 59/00
B05D 5/00
C03C 17/34
C04B 41/89
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation C09D 7/67 C09D 7/67
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation C03C 2217/477 C03C 2217/477
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation D06M 11/46 D06M 11/46
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation B01J 37/0217 B01J 37/0217
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation B82Y 30/00 B82Y 30/00
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation D06M 23/08 D06M 23/08
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation C03C 17/009 C03C 17/009
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation B01J 35/004 B01J 35/004
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation C03C 17/34 C03C 17/34
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation B01J 35/0006 B01J 35/0006
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation C02F 2305/10 C02F 2305/10
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation D21H 19/385 D21H 19/385
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation B01J 37/0219 B01J 37/0219
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation C08K 9/04 C08K 9/04
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation C03C 17/007 C03C 17/007
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation B01J 21/063 B01J 21/063
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation C03C 17/256 C03C 17/256
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation C09D 7/68 C09D 7/68
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation C03C 2217/71 C03C 2217/71
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation C09D 7/61 C09D 7/61
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation B01J 23/50 B01J 23/50
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation D21H 17/69 D21H 17/69
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation C03C 2217/45 C03C 2217/45
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation D06M 16/00 D06M 16/00
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation C08K 3/22 C08K 3/22
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation C03C 17/3411 C03C 17/3411
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation B01J 37/036 B01J 37/036
MCD-Hauptklasse MCM
MCD-Nebenklasse MCS C09D 5/00 (2006.01)
C03C 17/34 (2006.01)
C03C 17/25 (2006.01)
C03C 17/00 (2006.01)
C02F 1/32 (2006.01)
B01J 37/03 (2006.01)
C09D 7/61 (2018.01)
A61L 9/00 (2006.01)
B01J 21/06 (2006.01)
B01J 23/50 (2006.01)
D06M 11/46 (2006.01)
B01J 37/02 (2006.01)
B01J 35/00 (2006.01)
MCD-Zusatzklasse MCA C02F 1/30 (2006.01)
57 Zusammenfassung AB [DE] Die Verwendung von einer photokatalytischen, TiO2 enthaltenden Schicht unter Verwendung von TiO2-Teilchen, die gegebenenfalls mit Metall- oder Nichtmetallelementen oder -verbindungen dotiert sind, zur Funktionalisierung von Substraten wird beschrieben. Zum Schutz von empfindlichen Substraten kann die photokatalytische Schicht einen Konzentrationsgradienten der TiO2-Teilchen aufweisen. Gegebenenfalls ist zwischen Substrat und photokatalytischer Schicht eine organisch modifizierte anorganische Hybridschicht vorgesehen.
Korrekturinformation KORRINF
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP
Zitierende Dokumente Dokumente ermitteln
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP B05D 5/00 ; B05D 7/24 ; C03C 17/25 ; C03C 17/25 SG ; C03C 17/34