Bibliografische Daten

Dokument DE000010342175A1 (Seiten: 16)

Bibliografische Daten Dokument DE000010342175A1 (Seiten: 16)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] Vorrichtung und Verfahren zur Messung der Oberflchentopographie und Wellenaberrationen eines Linsensystems, insbesondere eines Auges
71/73 Anmelder/Inhaber PA Optocraft GmbH, 91052 Erlangen, DE
72 Erfinder IN Beyerlein, Mathias, Dr., 91052 Erlangen, DE ; Pfund, Johannes, Dr., 90425 Nrnberg, DE
22/96 Anmeldedatum AD 12.09.2003
21 Anmeldenummer AN 10342175
Anmeldeland AC DE
Veröffentlichungsdatum PUB 14.04.2005
33
31
32
Priorität PRC
PRN
PRD


51 IPC-Hauptklasse ICM G01B 11/30
51 IPC-Nebenklasse ICS A61B 3/107
G01B 9/02
IPC-Zusatzklasse ICA A61F 9/01
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation A61B 3/103 A61B 3/103
Neues Fenster: Externer Link Gemeinsame Patentklassifikation A61B 3/107 A61B 3/107
MCD-Hauptklasse MCM
MCD-Nebenklasse MCS A61B 3/103 (2006.01)
A61B 3/107 (2006.01)
MCD-Zusatzklasse MCA
57 Zusammenfassung AB [DE] Es werden eine Vorrichtung (1) und ein Verfahren zur Messung der Oberflchentopographie und Wellenaberration eines Linsensystems (2) angegeben. Die Vorrichtung (1) ist mit einem ersten Messsystem (8), das eine Lichtquelle (10) zur Ausstrahlung eines ersten Lichtbndels (11) einer ersten Wellenlnge (lambda1) sowie einen Detektor (20, 48) zur Aufnahme des an dem Linsensystem (2) reflektierten ersten Lichtbndels (11') umfasst, sowie mit einem zweiten Messsystem (9), das eine Lichtquelle (21) zur Ausstrahlung eines zweiten Lichtbndels (22) einer zweiten Wellenlnge (lambda2) sowie einen Detektor (24, 48) zur Aufnahme des durch das Linsensystem (2) transmittierten zweiten Lichtbndels (22') umfasst, ausgerstet. Dabei ist in einem gemeinsamen Strahlengangbereich (14) des ersten Messsystems (8) und des zweiten Messsystems (9) ein diffraktives optisches Element (18) angeordnet, welches den jeweiligen Wellenfrontverlauf (34) des ersten Lichtbndels (11, 11') und des zweiten Lichtbndels (22, 22') wellenlngenselektiv anpasst.
Korrekturinformation KORRINF
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT
US020010016695A1
US020020163623A1
US020030038921A1
US020030169403A1
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP
Zitierende Dokumente Dokumente ermitteln
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP A61B 3/107 ; A61F 9/01 ; G01B 9/02 ; G01B 11/30