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Titel |
TI |
[DE] Vorrichtung und Verfahren zur Messung der Oberflächentopographie und Wellenaberrationen eines Linsensystems, insbesondere eines Auges |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Optocraft GmbH, 91052 Erlangen, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Beyerlein, Mathias, Dr., 91052 Erlangen, DE
;
Pfund, Johannes, Dr., 90425 Nürnberg, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
12.09.2003 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
10342175 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
14.04.2005 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01B 11/30
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
A61B 3/107
G01B 9/02
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
A61F 9/01
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
A61B 3/103
A61B 3/107
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
A61B 3/103
(2006.01)
A61B 3/107
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Es werden eine Vorrichtung (1) und ein Verfahren zur Messung der Oberflächentopographie und Wellenaberration eines Linsensystems (2) angegeben. Die Vorrichtung (1) ist mit einem ersten Messsystem (8), das eine Lichtquelle (10) zur Ausstrahlung eines ersten Lichtbündels (11) einer ersten Wellenlänge (lambda1) sowie einen Detektor (20, 48) zur Aufnahme des an dem Linsensystem (2) reflektierten ersten Lichtbündels (11') umfasst, sowie mit einem zweiten Messsystem (9), das eine Lichtquelle (21) zur Ausstrahlung eines zweiten Lichtbündels (22) einer zweiten Wellenlänge (lambda2) sowie einen Detektor (24, 48) zur Aufnahme des durch das Linsensystem (2) transmittierten zweiten Lichtbündels (22') umfasst, ausgerüstet. Dabei ist in einem gemeinsamen Strahlengangbereich (14) des ersten Messsystems (8) und des zweiten Messsystems (9) ein diffraktives optisches Element (18) angeordnet, welches den jeweiligen Wellenfrontverlauf (34) des ersten Lichtbündels (11, 11') und des zweiten Lichtbündels (22, 22') wellenlängenselektiv anpasst. |
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Korrekturinformation |
KORRINF |
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
US020010016695A1 
US020020163623A1
US020030038921A1
US020030169403A1
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
A61B 3/107
;
A61F 9/01
;
G01B 9/02
;
G01B 11/30
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