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Title |
TI |
[DE] VERFAHREN UND BELEUCHTUNGSVORRICHTUNG DER ADAPTIVEN OPTIK IN DER REFLEXIONSMIKROSKOPIE
[EN] METHOD AND ILLUMINATION APPARATUS OF THE ADAPTIVE OPTICS IN REFLECTION MICROSCOPY
[FR] PROCÉDÉ ET APPAREIL D'ÉCLAIRAGE DE L'OPTIQUE ADAPTATIVE EN MICROSCOPIE PAR RÉFLEXION |
| 71/73 |
Applicant/owner |
PA |
STIFTUNG CAESAR CENTER OF ADVANCED EUROPEAN STUDIES AND RES, DE
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| 72 |
Inventor |
IN |
SEELIG JOHANNES DOMINIK, DE
;
VISHNIAKOU IVAN, DE
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| 22/96 |
Application date |
AD |
Apr 1, 2021 |
| 21 |
Application number |
AN |
2021058599 |
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Country of application |
AC |
EP |
|
Publication date |
PUB |
Oct 14, 2021 |
33
31
32 |
Priority data |
PRC
PRN
PRD |
DE
102020109734
20200407
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| 51 |
IPC main class |
ICM |
G02B 21/06
(2006.01)
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| 51 |
IPC secondary class |
ICS |
G01N 21/64
(2006.01)
G02B 21/00
(2006.01)
G02B 21/36
(2006.01)
G06N 3/08
(2006.01)
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IPC additional class |
ICA |
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IPC index class |
ICI |
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Cooperative patent classification |
CPC |
G01N 21/6458
G02B 21/0032
G02B 21/0072
G02B 21/0076
G02B 21/06
G02B 21/367
G06N 3/08
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MCD main class |
MCM |
G02B 21/06
(2006.01)
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MCD secondary class |
MCS |
G01N 21/64
(2006.01)
G02B 21/00
(2006.01)
G02B 21/36
(2006.01)
G06N 3/08
(2006.01)
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MCD additional class |
MCA |
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| 57 |
Abstract |
AB |
[DE] Verfahren und Beleuchtungs- und Detektionsvorrichtung zum Korrigieren eines Reflexionsbildes und/oder Fluoreszenbildes in der Mikroskopie, insbesondere bei der Laser-Mikroskopie im Rasterverfahren, umfassend die folgenden Schritte: a) Einstrahlen einer Lichtverteilung Io mit einer einem Mikroskop zugeordneten Beleuchtungseinheit in einen Anregungspfad des Mikroskops; wobei der Anregungspfad die Lichtverteilung Io auf eine Probe führt und die Lichtverteilung Io beim Eintritt in die Probe, insbesondere durch Streueffekte, zu einer Lichtverteilung IA, Probe verzerrt wird; b) Reflektieren der Lichtverteilung IA, Probe an der Probe in einen Detektionspfad des Mikroskops, wobei die ID, Probe beim Austritt aus der Probe zu der Lichtverteilung ID, Probe verzerrt wird; c) Aufzeichnen der reflektierten Lichtverteilung ID, Probe; d) Übergabe der reflektierten Lichtverteilung IA, Probe an ein mathematisches Modell F, das die Lichtausbreitung bei der Reflexionsmikroskopie beschreibt; e) Ausgabe eines 2-Tupels (MA, MD), wobei MA die Verzerrung der Lichtverteilung Io beim Verzerrung der Lichtverteilung IA, Probe beim Austritt aus die Probe beschreibt; f) Einstellen eines komplementären Verzerrungsmusters MA# auf einem optischen Modulator des Anregungspfades und eines komplementären Verzerrungsmusters MD# auf einem weiteren optischen Modulator des Detektionspfades.
[EN] A method and an illumination and detection apparatus for correcting a reflection image and/or fluorescence image in microscopy, in particular in the scanning method of laser microscopy, comprising the following steps: a) radiating a light distribution Io into an excitation path of a microscope using an illumination unit assigned to the microscope, wherein the excitation path guides the light distribution Io to a sample and the light distribution Io is distorted to form a light distribution IA, Probe upon entry into the sample, in particular as a result of scattering effects; b) reflecting the light distribution IA, Probe at the sample into a detection path of the microscope, wherein the IA, Probe is distorted to form the light distribution ID, Probe upon emergence from the sample; c) recording the reflected light distribution ID, Probe; d) transferring the reflected light distribution ID, Probe to a mathematical model F which describes the light propagation in reflection microscopy; e) outputting a 2-tuple (MA, MD), where MA describes the distortion of the light distribution Io upon entry into the sample and where M_D describes the distortion of the light distribution IA, Probe upon emergence from the sample; f) setting a complementary distortion pattern MA# on an optical modulator of the excitation path and a complementary distortion pattern MD# on a further optical modulator of the detection path.
[FR] L'invention concerne un procédé et un appareil d'éclairage et de détection pour corriger une image de réflexion et/ou une image de fluorescence en microscopie, en particulier dans le procédé de balayage de la microscopie laser, comprenant les étapes suivantes : a) rayonnement d'une distribution de lumière Io dans un trajet d'excitation d'un microscope en utilisant une unité d'éclairage affectée au microscope, le trajet d'excitation guidant la distribution de lumière Io vers un échantillon et la distribution de lumière Io étant déformée pour former une distribution de lumière IA, Probe lors de l'entrée dans l'échantillon, en particulier en raison des effets de diffusion ; b) réflexion de la distribution de lumière IA, Probe au niveau de l'échantillon dans un trajet de détection du microscope, l'IA, Probe étant déformée pour former la distribution de lumière ID, Probe lors de la sortie de l'échantillon ; c) enregistrement de la distribution de lumière réfléchie ID, Probe ; d) transfert de la distribution de la lumière réfléchie ID, Probe à un modèle mathématique F qui décrit la propagation de la lumière en microscopie par réflexion ; e) délivrance en sortie d'un 2-tuple (MA, MD), où MA décrit la distorsion de la distribution de la lumière Io à l'entrée dans l'échantillon et où M_D décrit la distorsion de la distribution de la lumière IA, Probe lors de la sortie de l'échantillon ; f) réglage d'un motif de distorsion complémentaire MA# sur un modulateur optique du trajet d'excitation et d'un motif de distorsion complémentaire MD# sur un autre modulateur optique du trajet de détection. |
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Cited documents identified in the search |
CT |
DE102018108628A1
EP000003048465A1
WO002014152739A2
WO002018177680A2
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Cited documents indicated by the applicant |
CT |
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| 56 |
Cited non-patent literature identified in the search |
CTNP |
DELPHINE DÉBARRE ET AL: "Image-based adaptive optics for two-photon microscopy", OPTICS LETTERS, OPTICAL SOCIETY OF AMERICA, US, vol. 34, no. 16, 15 August 2009 (2009-08-15), pages 2495 - 2497, XP001547260, ISSN: 0146-9592, DOI: 10.1364/OL.34.002495 7;
PAINE SCOTT W ET AL: "Machine learning for avoiding stagnation in image-based wavefront sensing", SPIE PROCEEDINGS; [PROCEEDINGS OF SPIE ISSN 0277-786X], SPIE, US, vol. 10980, 13 May 2019 (2019-05-13), pages 109800T - 109800T, XP060121225, ISBN: 978-1-5106-3673-6, DOI: 10.1117/12.2519884 7;
TRAVIS J GOULD ET AL: "Adaptive optics enables 3D STED microscopy in aberrating specimens References and links", ANNU. REV. CELL DEV. BIOL. NAT. METHODS OPT. LETT. SCIENCE BIOPHYS. J. NAT. METHODS BIOPHYS. J. BIOPHYS. J. SCIENCE OPT. EXPRESS NAT. METHODS PROC. NATL. ACAD. SCI. U.S.A. PROC. NATL. ACAD. SCI. U.S.A. NAT. METHODS PROC. NATL. ACAD. SCI. U.S.A. OPT., 29 August 2012 (2012-08-29), pages 285 - 314, XP055263554, Retrieved from the Internet [retrieved on 20160407] 7
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Cited non-patent literature indicated by the applicant |
CTNP |
J. R. FIENUP: "Machine learning for improved image-based wavefront sensing", OPT. LETTERS, vol. 43, 2018, pages 1235 - 1238 1
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Citing documents |
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CN000113974964A
CN000115619684A
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Sequence listings |
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Search file IPC |
ICP |
G02B 21/00
G02B 21/06
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