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Zusammenfassung |
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[DE] Es werden ein Verfahren zur Kalibrierung eines optischen Sensorsystems (12) mittels einer Kalibriervorrichtung (42) und eine Kalibriervorrichtung (42) beschrieben. Mit dem Sensorsystem (12) können mittels elektromagnetischer Abtastsignale (30) Objekte (32a, 32b) in einem Überwachungsbereich (16) erfasst werden. Bei dem Verfahren werden wenigstens ein elektromagnetisches Abtastsignal (30) auf wenigstens ein Referenzobjekt (32a, 32b) in den Überwachungsbereich (16) gesendet. Wenigstens ein reflektiertes Abtastsignal (30'), welches an wenigstens einer Reflexionsstelle (34a, 34b) des wenigstens einen Referenzobjekts (32a, 32b) reflektiert wird, wird empfangen. Auf Basis des reflektierten Abtastsignals (30') wird wenigstens eine Sensorkoordinaten-Positionsgröße (da, db, &agr;) ermittelt, welche die Position der wenigstens einen Reflexionsstelle (34a, 34b) in einem Sensor-Koordinatensystem (18) des Sensorsystems (12) charakterisiert. Aus wenigstens einer Sensorkoordinaten-Positionsgröße (da, db, &agr;) und wenigstens einer Kalibrierkoordinaten-Positionsgröße (za, zb), welche die Position der wenigstens einen Reflexionsstelle (34a, 34b) in einem Kalibrier-Koordinatensystem (20) der Kalibriervorrichtung (42) charakterisiert, wird wenigstens eine Korrekturgröße (&Dgr;&bgr;, &Dgr;z) zur Kalibrierung des Sensorsystems (12) bezüglich dem Kalibrier-Koordinatensystem (20) ermittelt wird. In mehreren unterschiedlichen Abständen wenigstens eines Referenzobjekts (32a, 32b) von dem Sensorsystem (12) werden mehrere entsprechende Sensorkoordinaten-Positionsgrößen (da, db, &agr;) ermittelt. Aus den mehreren Sensorkoordinaten-Positionsgrößen (da, db, &agr;) und mehreren entsprechenden Kalibrierkoordinaten-Positionsgrößen (za, zb) wird wenigstens eine Korrekturgröße (&Dgr;&bgr;, &Dgr;z) ermittelt.
[EN] The invention describes a method for calibrating an optical sensor system (12) by means of a calibration device (42), and a calibration device (42). Objects (32a, 32b) in a monitoring region (16) can be detected by the sensor system (12) by means of electromagnetic sensing signals (30). In the method, at least one electromagnetic sensing signal (30) is sent to at least one reference object (32a, 32b) in the monitoring region (16). At least one reflected sensing signal (30'), which is reflected at at least one reflection point (34a, 34b) of the at least one reference object (32a, 32b), is received. At least one sensor coordinate position variable (da, db, &agr;) is determined on the basis of the reflected sensing signal (30'), which variable characterises the position of the at least one reflection point (34a, 34b) in a sensor coordinate system (18) of the sensor system (12). At least one correction variable (&Dgr;&bgr;, &Dgr;z) is determined for calibrating the sensor system (12) with regard to the calibration coordinate system (20) from at least one sensor coordinate position variable (da, db, &agr;) and at least one calibration coordinate position variable (za, zb) which characterises the position of the at least one reflection point (34a, 34b) in a calibration coordinate system (20) of the calibration device (42). Several corresponding sensor coordinate position variables (da, db, &agr;) are determined at several different distances of at least one reference object (32a, 32b) from the sensor system (12). At least one correction variable (&Dgr;&bgr;, &Dgr;z) is determined from the several sensor coordinate position variables (da, db, &agr;) and several corresponding calibration coordinate position variables (za, zb).
[FR] L'invention a trait à un procédé d'étalonnage d'un système de détection optique (12) au moyen d'un dispositif d'étalonnage (42), et un dispositif d'étalonnage (42). Des objets (32a, 32b) dans une région de surveillance (16) peuvent être détectés par le système de détection (12) au moyen de signaux de détection électromagnétiques (30). Dans le procédé, au moins un signal de détection électromagnétique (30) est envoyé à au moins un objet de référence (32a, 32b) dans la région de surveillance (16). Au moins un signal de détection réfléchi (30'), réfléchi au niveau d'au moins un point de réflexion (34a, 34b) dudit objet de référence (32a, 32b), est reçu. Au moins une variable de position de coordonnées de capteur (da, db, &agr;) est déterminée en fonction du signal de détection réfléchi (30'), ladite au moins une variable caractérisant la position dudit point de réflexion (34a, 34b) dans un système de coordonnées de capteur (18) du système de détection (12). Au moins une variable de correction (&Dgr;&bgr;, &Dgr;z) est déterminée pour l'étalonnage du système de détection (12) par rapport au système de coordonnées d'étalonnage (20) à partir d'au moins une variable de position de coordonnées de capteur (da, db, &agr;) et d'au moins une variable de position de coordonnées d'étalonnage (za, zb) qui caractérise la position dudit point de réflexion (34a, 34b) dans un système de coordonnées d'étalonnage (20) du dispositif d'étalonnage (42). De multiples variables de position de coordonnées de capteur correspondantes (da, db, &agr;) sont déterminées à de multiples distances différentes d'au moins un objet de référence (32a, 32b) du système de détection (12). Au moins une variable de correction (&Dgr;&bgr;, &Dgr;z) est déterminée à partir des multiples variables de position de coordonnées de capteur (da, db, &agr;) et des multiples variables de position de coordonnées d'étalonnage correspondantes (za, zb). |
