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Titel |
TI |
[DE] KONTAKTLOSER OPTISCHER DEHNUNGSSENSOR
[EN] CONTACTLESS OPTICAL EXTENSOMETER
[FR] CAPTEUR OPTIQUE DE CONTRAINTE SANS CONTACT |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
TECHNISCHE UNIV CLAUSTHAL, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
KOWARSCH ROBERT, DE
;
REMBE CHRISTIAN, DE
;
WANG FANGJIAN, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
06.05.2019 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
2019200038 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
21.11.2019 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
DE
102018111921
20180517
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01B 11/16
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
G01B 9/02
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01B 11/161
G01B 9/02095
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01B 11/16
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G01B 9/02
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Die Erfindung betrifft einen kontaktlosen optischen Dehnungssensor (100) aufweisend: eine Laserstrahlquelle (110) zur Erzeugung eines ersten Laserstrahls (120) und eines zweiten Laserstrahls (121), welcher gegenüber dem ersten Laserstrahls (120) frequenzverschoben ist; eine erste Vorrichtung (130) und eine zweite Vorrichtung (131) zum Messen einer Intensität eines Laserstrahls; dadurch gekennzeichnet, dass der kontaktlose optische Dehnungssensor (100) ausgebildet und eingerichtet ist, dass der erste Laserstrahl (120) und der zweite Laserstrahl (121) auf einer Oberfläche (141) eines Messobjektes (140) unter einem Winkel (&thgr;) zueinander zur Interferenz gebracht werden, wodurch ein Interferenzstreifenmuster (142) auf der Oberfläche (141) des Messobjekts (140) erzeugt wird; dass ein erster Bereich (143) des Interferenzstreifenmusters (142) auf die erste Vorrichtung (131) zum Messen einer Intensität eines Laserstrahls; und ein zweiter Bereich (144) des Interferenzstreifenmusters (142) auf die zweite Vorrichtung (132) zum Messen einer Intensität eines Laserstrahls abgebildet wird, wobei der erste Bereich (143) und der zweite Bereich (144) disjunkt sind; und ein Signal der ersten Vorrichtung (131) zum Messen einer Intensität eines Laserstrahls und ein Signal der zweiten Vorrichtung (132) zum Messen einer Intensität eines Laserstrahls hinsichtlich der Frequenz und/oder der Phase differentiell ausgewertet werden.
[EN] The invention relates to a contactless optical extensometer (100) comprising: a laser beam source (110) for producing a first laser beam (120) and a second laser beam (121), which has a frequency shift in relation to the first laser beam (120); a first apparatus (130) and a second apparatus (131) for measuring an intensity of a laser beam; characterized in that the contactless optical extensometer (100) is configured and embodied to bring the first laser beam (120) and the second laser beam (121) into interference at an angle (&thgr;) in relation to one another on a surface (141) of a test object (140), as a result of which an interference fringe pattern (142) is produced on the surface (141) of the test object (140); in that a first region (143) of the interference fringe pattern (142) is imaged onto the first apparatus (131) for measuring an intensity of the laser beam; and a second region (144) of the interference fringe pattern (142) is imaged onto the second apparatus (132) for measuring an intensity of a laser beam, wherein the first region (143) and the second region (144) are disjoint; and a signal of the first apparatus (131), for measuring an intensity of a laser beam, and a signal of the second apparatus (132), for measuring an intensity of a laser beam, are evaluated differentially in respective the frequency and/or phase.
[FR] L'invention concerne un capteur de contrainte optique sans contact (100) comprenant : une source de faisceau laser (110) pour générer un premier faisceau laser (120) et un second faisceau laser (121) dont la fréquence est décalée par rapport au premier faisceau laser (120) ; un premier dispositif (130) et un second dispositif (131) pour mesurer une intensité d'un faisceau laser ; caractérisé en ce que ledit capteur de contrainte optique sans contact (100) est formé et agencé pour amener ledit premier faisceau laser (120) et ledit second faisceau laser (121) à interférer sur une surface (141) d'un objet de mesure (140) selon un angle (&thgr;) l'un par rapport à l'autre, générant ainsi un motif de franges d'interférence (142) sur ladite surface (141) dudit objet de mesure (140) ; en ce qu'une première zone (143) du motif de franges d'interférence (142) est représentée sur le premier dispositif (131) pour mesurer une intensité d'un faisceau laser ; et une seconde région (144) du motif de franges d'interférence (142) est représentée sur le second dispositif (132) pour mesurer une intensité d'un faisceau laser, la première zone (143) et la seconde zone (144) étant séparées ; et un signal provenant dudit premier dispositif (131) pour mesurer une intensité d'un faisceau laser et un signal provenant dudit second dispositif (132) pour mesurer une intensité d'un faisceau laser sont évalués de manière différentielle en termes de fréquence et/ou de phase. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
WO002017015424A1
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
DE102012211549B3
DE102014216278A1
EP000000851210A2
EP000002589924A1
US000004436419A
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Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
ADAM TOMASZ WAZ ET AL: "Multichannel WDM vibrometry at 1550 nm", PHOTONICS LETTERS OF POLAND, vol. 6, no. 4, 31 December 2014 (2014-12-31), XP055604580, DOI: 10.4302/plp.2014.4.07 7;
MARU K ET AL: "Nonmechanical compact probe for cross-sectional velocity measurement based on differential laser Doppler velocimetry", REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, AIP, MELVILLE, NY, US, vol. 88, no. 4, 4 April 2017 (2017-04-04), XP012217720, ISSN: 0034-6748, [retrieved on 20170404], DOI: 10.1063/1.4979563 7;
STEFAN RADEL ET AL: "In-Plane Laser-Doppler-Velocimeter Sensor Head for the Measurement of Surface Structural Intensity Implementing USW fields to PAT Technology View project viability of yeast in USW View project In-Plane Laser-Doppler-Velocimeter Sensor Head for the Measurement of Surface Structural Intensity", 1 January 1998 (1998-01-01), pages 1055 - 1065, XP055604639, Retrieved from the Internet 7
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Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
C. EXNER: "In-Plane Laser-Doppler-Velocimeter Sensor Head for the Measurement of Surface Structural Intensity", ACTA ACUSTICA UNITED WITH ACUSTICA, vol. 84, no. 6, November 1998 (1998-11-01), pages 1055 - 1065 1;
CHRISTIAN REMBE: "Optical inspection of microsystems", 2007, TAYLOR & FRANCIS, article "Measuring MEMS in motion by laser doppler vibrometry", pages: 245 - 292 1;
JU-YI LEE: "Measurement of in-plane displacement by wavelength-modulated heterodyne speckle interferometry", APPLIED OPTICS, vol. 51, no. 8, 2012, pages 1095 - 1100, XP001574471, DOI: doi:10.1364/AO.51.001095 1;
STEGER, HEINRICHWÖRTGE, MICHAELSIEGMUND, GEORGREMBE, C: "Optical Inspection of Microsystems", 2006, VERLAG CRC PRESS, article "Measuring MEMS in Motion by Laser Doppler Vibrometry", pages: 245 - 292 1
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01B 11/16
G01B 9/02
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