| 56 |
Cited non-patent literature indicated by the applicant |
CTNP |
ANXOLABEHERE-MALLART, E.; COSTENTIN, C.; FOURNIER, M.; NOWAK, S.; ROBET, M.; SAVEANT, J.M., J. AM. CHEM. SOC., 2012 1;
DAU, H.; LIMBERG, C.; REIER, T.; RISCH, M.; ROGGAN, S.; STRASSER, P., CHEMCATCHEM, vol. 2, 2010, pages 724 - 761 1;
DEMPSEY, J. L.; WINKLER, J. R.; GRAY, H. B., J. AM. CHEM. SOC., vol. 132, 2010, pages 16774 - 16776 1;
ARTERO, V.; CHAVAROT-KERLIDOU, M.; FONTECAVE, M., ANGEW. CHEM. INT. ED., vol. 50, 2011, pages 7238 - 7266 1;
BAFFERT, C.; ARTERO, V.; FONTECAVE, M., INORG. CHEM., vol. 46, 2007, pages 1817 - 1824 1;
BAKAC, A.; ESPENSON, J. H., J. AM. CHEM. SOC., vol. 106, 1984, pages 5197 - 5202 1;
CUI, C.Q.; JIANG, S.P.; TSEUNG, A.C.C., JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY, vol. Z37, 1990, pages 3418 - 3423 1;
DINCA, M.; SURENDRANATH, Y.; NOCERA, D. G., PROC. NATL. ACAD. SCI. USA, vol. 107, 2010, pages 10337 - 10341 1;
FOURMOND, V.; JACQUES, P. A.; FONTECAVE, M.; ARTERO, V., INORG. CHEM., vol. 49, 2010, pages 10338 - 10347 1;
GORDON, R. B.; BERTRAM, M.; GRAEDEL, T. E., PROC. NATL. ACAD. SCI. USA, vol. 103, 2006, pages 1209 - 1214 1;
HOU, Y. D.; ABRAMS, B. L.; VESBORG, P. C. K.; BJORKETUN, M. E.; HERBST, K.; BECH, L.; SETTI, A. M.; DAMSGAARD, C. D.; PEDERSEN, T., NAT. MATER., vol. 10, 2011, pages 434 - 438 1;
HU, G.-R.; DENG, X.-R.; PENG, Z.-D.; DU, K., ELECTROCHIM. ACTA, vol. 53, 2008, pages 2567 - 2573 1;
JACQUES, P.-A.; ARTERO, V.; PÉCAUT, J.; FONTECAVE, M., PROC. NATL. ACAD. SCI. U.S.A., vol. 106, 2009, pages 20627 - 20632 1;
JIAO, F.; FREI, H., ENERGY ENVIRON. SCI., vol. 3, 2010, pages 1018 - 1027 1;
KANAN, M. W.; NOCERA, D. G., SCIENCE, vol. 321, 2008, pages 1072 - 1075 1;
KRAEUTLER, B.; BARD, A.J., J. AM. CHEM. SOC., vol. 100, 1978, pages 4317 - 4318 1;
LE GOFF, A.; ARTERO, V.; JOUSSELME, B.; TRAN, P. D.; GUILLET, N.; METAYE, R.; FIHRI, A.; PALACIN, S.; FONTECAVE, M., SCIENCE, vol. 326, 2009, pages 1384 - 1387 1;
LEWIS, N. S.; NOCERA, D. G., PROC. NATL. ACAD. SCI. USA, vol. 104, 2007, pages 20142 - 20142 1;
MCCRORY, C.C.L.; UYEDA, C.; PETERS J.C., J. AM. CHEM. SOC., vol. 134, 2012, pages 3164 - 3170 1;
MILES, M.H., J. ELECTROANAL CHEM., vol. 60, 1975, pages 89 1;
MONK, P. M. S.; MAN, C. M., JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE-MATERIALS IN ELECTRONICS, vol. 10, 1999, pages 101 - 107 1;
PANTANI, 0.; ANXOLABEHERE-MALLART, E.; AUKAULOO, A.; MILLET, P., ELECTROCHEM. COMMUN., vol. 9, 2007, pages 54 - 58 1;
REECE, S. Y.; HAMEL, J. A.; SUNG, K.; JARVI, T. D.; ESSWEIN, A. J.; PIJPERS, J. J. H.; NOCERA, D. G., SCIENCE, 2011 1;
RISCH, M.; KHARE, V.; ZAHARIEVA, I.; GERENCSER, L.; CHERNEV, P.; DAU, H., J. AM. CHEM. SOC., vol. 131, 2009, pages 6936 - 6937 1;
SANCHEZ, S.; SALAZAR, R.; LEVY-CLEMENT, C.; IVANOVA, V., ECS TRANS., vol. 33, 2011, pages 183 1;
SENTHILKUMAR, M.; MATHIYARASU, J.; JOSEPH, J.; PHANI, K. L. N., YEGNARAMAN, V. MATER. CHEM. PHYS., vol. 108, 2008, pages 403 - 407 1;
SOTO, A.B.; ARCE, E.M.; PALOMARPARDAVE, M.; GONZALEZ, I., ELECTROCHIMICA ACTA, vol. 41, 1996, pages 2647 - 2655 1;
STEINMILLER, E.M.P.; CHOI K.-S., PROC. NATL. ACAD. SCI. U.S.A., vol. 106, 2009, pages 20633 - 20636 1;
SUN, Y.; BIGI, J. P.; PIRO, N. A.; TANG, M. L.; LONG, J. R.; CHANG, C. J., J. AM. CHEM. SOC., vol. 133, 2011, pages 9212 - 9215 1;
TRAN, P. D.; LE GOFF, A.; HEIDKAMP, J.; JOUSSELME, B.; GUILLET, N.; PALACIN, S.; DAU, H.; FONTECAVE, M.; ARTERO, V., ANGEW. CHEM. INT. ED., vol. 50, 2011, pages 1371 - 1374 1;
WAGNER, C. D.; DAVIS, L. E.; ZELLER, M. V.; TAYLOR, J. A.; RAYMOND, R. M.; GALE, L. H., SURF. INTERFACE ANAL., vol. 3, 1981, pages 211 1;
YANG, J.; LIU, H.; MARTENS, W. N.; ROST, R. L., THE JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY C, vol. 114, 2009, pages 111 - 119 1;
YOUNG, E. R.; NOCERA, D. G.; BULOVIC, V., ENERGY ENVIRON. SCI., vol. 3, 2010, pages 1726 - 1728 1;
ZAHARIEVA, I.; NAJAFPOUR, M. M.; WIECHEN, M.; HAUMANN, M.; KURZ, P.; DAU, H., ENERGY ENVIRON. SCI., vol. 4, 2011, pages 2400 - 2408 1;
ZHONG, D.K.; CORNUZ, M.; SIVULA, K.; GRAETZEL, M.; GAMELIN, D.R., ENERGY ENVIRON. SCI., vol. 4, 2011, pages 1759 - 1764 1
|
