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Titel |
TI |
[DE] NUTZUNG DER POLARISATION DER WÄRMESTRAHLUNG ZUR DETEKTION VON 3D-STRUKTUREN
[EN] USE OF THE POLARIZATION OF THERMAL RADIATION FOR THE DETECTION OF 3D STRUCTURES
[FR] UTILISATION DE LA POLARISATION DU RAYONNEMENT THERMIQUE POUR LA DÉTECTION DE STRUCTURES 3D |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
ABT FELIX, DE
;
BERGER PETER, DE
;
GRAF THOMAS, DE
;
UNIV STUTTGART, DE
;
WEBERPALS JAN-PHILIPP, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
ABT FELIX, DE
;
BERGER PETER, DE
;
GRAF THOMAS, DE
;
WEBERPALS JAN-PHILIPP, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
24.09.2010 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
2010005861 |
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Anmeldeland |
AC |
EP |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
29.03.2012 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
B23K 26/03
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
B23K 26/032
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
B23K 26/03
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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Zusammenfassung |
AB |
[DE] Die Erfindung betrifft eine verbesserte Überwachung bzw. Kontrolle einer Bearbeitung eines Werkstücks (12), wobei ein entsprechendes Verfahren umfasst: Erfassen einer ersten Strahlungskomponente (28a) einer von zumindest einem Flächenelement in einem Bearbeitungsbereich des Werkstückes emittierten Wärmestrahlung (28) mit einer ersten Polarisation der Wärmestrahlung; Erfassen einer zweiten Strahlungskomponente (28b) einer von dem zumindest einen Flächenelement in dem Bearbeitungsbereich des Werkstückes emittierten Wärmestrahlung (28) mit einer von der ersten verschiedenen, zweiten Polarisation der Wärmestrahlung; und Ermitteln von Datenwerten einer Oberflächenstruktur des Werkstückes (12) an dem zumindest einen Flächenelement aus der erfassten ersten und zweiten Strahlungskomponente.
[EN] The invention relates to improved monitoring or control of a machining operation on a workpiece (12), wherein a corresponding method comprises: detecting a first radiation component (28a) of a thermal radiation (28), with a first polarization of the thermal radiation, emitted by at least one surface-area element in a machining region of the workpiece; detecting a second radiation component (28b) of a thermal radiation (28), with a second polarization of the thermal radiation that is different from the first, emitted by the at least one surface-area element in the machining region of the workpiece; and determining from the detected first and second radiation components data values of a surface structure of the workpiece (12) on the at least one surface-area element.
[FR] L'invention concerne une surveillance ou un contrôle amélioré d'un traitement d'une pièce (12), un procédé correspondant comprenant : la détection d'une première composante de rayonnement (28a) d'un rayonnement thermique (28) qui est émis par au moins un élément superficiel situé dans une région de traitement de la pièce et qui possède une première polarisation de rayonnement thermique; la détection d'une deuxième composante de rayonnement (28b) d'un rayonnement thermique (28) qui est émis par l'au moins un élément superficiel situé dans la région de traitement de la pièce et qui possède une deuxième polarisation de rayonnement thermique, différente de la première; et la détermination de valeurs de données d'une structure superficielle de la pièce (12) sur l'au moins un élément superficiel à partir des première et deuxième composantes de rayonnement détectées. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
DE000019716293A1
JP002003181662A
US000005969374A
WO002007053973A1
WO002008028580A1
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
B23K 26/03
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