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Titel |
TI |
[EN] ELECTRICAL MEASURING SYSTEM |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
FRIEDRICH ALEXANDER UNIVERSIATAET ERLANGEN NRERNBERG, DE
;
SIEDLE HORST GMBH & CO KG, DE
;
UNIV FRIEDRICH ALEXANDER ER, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
BARBON FRANCESCO, DE
;
DINGLER PETER, DE
;
HALDER ERNST, DE
;
KÖLPIN ALEXANDER, DE
;
LINDNER STEFAN, DE
;
MANN SEBASTIAN, DE
;
VINCI GABOR, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
11.02.2014 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
201414177672 |
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Anmeldeland |
AC |
US |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
21.08.2014 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
DE
102013202765
20130220
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01S 13/02
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01F 23/284
G01S 13/02
G01S 13/08
G01S 13/88
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01S 13/02
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
[EN] A measuring system is described which includes a sensor for receiving an electromagnetic wave and a guide component for guiding the electromagnetic wave. The guide component is embodied as an elongated, preferably metal, profile component which contains, in a longitudinal direction, a slot for guiding the electromagnetic wave. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
US000004375057A
US020090309012A1
US020100066387A1
US020110105019A1
US020120056778A1
US020120323503A1
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
Microtech, Inc; Manufacturers Precision Microwave Components Cheshire, CT U.S.A.; Date :October 21, 2003. 9
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01S 13/02
G01S 13/08
G01S 13/88
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