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Titel |
TI |
[DE] Temperaturmesseinrichtung
[EN] Temperature measurement device
[FR] Dispositif de mesure de température |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
TECH UNIVERSITÄT CHEMNITZ, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
ARNOLD MARKUS, DE
;
DR FRONK MICHAEL, DE
;
DR LEHMANN DANIEL, DE
;
PITTNER STEVE, DE
;
PROF ZAHN DIETRICH R T, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
27.01.2014 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
14152613 |
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Anmeldeland |
AC |
EP |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
29.07.2015 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01K 1/08
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
G01K 7/22
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01K 1/08
G01K 7/22
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01K 1/08
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G01K 7/22
(2006.01)
|
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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Zusammenfassung |
AB |
[DE] Die vorliegende Erfindung betrifft eine Temperaturmesseinrichtung mit wenigstens einem Sensorelement, das mit Kontaktelementen gekoppelt ist, die mit einer elektrischen Spannungsversorgung zum Anlegen einer Spannung an das Sensorelement und einer Strommesseinrichtung zum Messen eines Stromflusses durch das Sensorelement verbunden sind. Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Temperaturmesseinrichtung zur Verfügung zu stellen, die bei Temperaturen bis 1800 °C dauerhaft genaue und zuverlässige Temperaturmesswerte zur Verfügung stellt. Die Aufgabe wird erfindungsgemäß durch eine Temperaturmesseinrichtung der genannten Gattung gelöst, bei welcher das Sensorelement aus wenigstens einem Sensormaterial ausgebildet ist, das bei 300 K eine Bandlücke von ‰¥ 2 eV aufweist, das Sensormaterial und die Anschlusselemente bei 10 5 Pa eine Schmelztemperatur von ‰¥ 1800 °C aufweisen, und um das Sensorelement eine gasdicht verschlossene Verkapselung mit einem Innenhohlraum vorgesehen ist, aus welcher Anschlüsse der Anschlusselemente herausgeführt sind. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
US000003832668A
US000004318073A
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
CN000002639863Y
CN000101551403A
CN000102095517A
CN000201497591U
CN000202119561U
JP002001318006A
JP002005056986A
JP002010237156A
WO002009082539A1
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01K 1/08
G01K 7/22
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