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Titel |
TI |
[DE] VERMESSUNGSSYSTEM UND MESSHILFSINSTRUMENT
[EN] SURVEYING SYSTEM AND AUXILIARY MEASURING INSTRUMENT
[FR] SYSTÈME DE MESURE ET INSTRUMENT AUXILIAIRE DE MESURE |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
LEICA GEOSYSTEMS AG, CH
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| 72 |
Erfinder |
IN |
BÖSCH THOMAS, AT
;
FAIX OLIVER, CH
;
GESER MARKUS, CH
;
ISELI CLAUDIO, CH
;
LENGWEILER PATRIK, CH
;
MAAR HANNES, AT
;
MÜLLER JOSEF, CH
;
SCHEJA JOCHEN, AT
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
31.10.2018 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
21210063 |
|
Anmeldeland |
AC |
EP |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
10.07.2024 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
EP
2018079910
31.10.2018
|
33
31
32 |
PRC
PRN
PRD |
EP
18796917
31.10.2018
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01C 15/06
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
G01B 11/00
(2006.01)
G01B 3/1084
(2020.01)
G01B 5/004
(2006.01)
G01C 15/00
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01B 11/002
G01B 3/1084
G01C 15/00
G01C 15/002
G01C 15/06
G01S 17/08
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01C 15/06
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G01B 11/00
(2006.01)
G01B 3/1084
(2020.01)
G01B 5/004
(2006.01)
G01C 15/00
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
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