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Titel |
TI |
[DE] VERMESSUNGSVERFAHREN, MESSSYSTEME UND MESSHILFSINSTRUMENTE
[EN] MEASUREMENT METHOD, MEASUREMENT SYSTEMS AND AUXILIARY MEASUREMENT INSTRUMENTS
[FR] DISPOSITIF DE MESURE, SYSTÈME DE MESURE ET INSTRUMENTS D'AIDE À LA MESURE |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
LEICA GEOSYSTEMS AG, CH
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| 72 |
Erfinder |
IN |
FAIX OLIVER, CH
;
LAIS JOSEF, CH
;
MAYER TIM, CH
;
METZLER BERNHARD, AT
;
MUELLER JOSEF, CH
;
PETKOV STEFAN, CH
;
SCHEJA JOCHEN, AT
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
13.12.2018 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
18825948 |
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Anmeldeland |
AC |
EP |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
20.10.2021 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
EP
2018084846
20181213
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01C 11/06
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
G01C 15/00
(2006.01)
G06T 19/00
(2011.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01C 11/06
G01C 15/002
G01V 1/003
G01W 1/10
G06Q 10/103
G06Q 50/08
G06T 19/006
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01C 11/06
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G01C 15/00
(2006.01)
G06T 19/00
(2011.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
US020140081611A1
US020150219455A1
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
HELMUT ECKERT ED - DARL KUHN: "Information / Kommunikation", IP.COM, IP.COM INC., WEST HENRIETTA, NY, US, 23 July 2003 (2003-07-23), XP013011952, ISSN: 1533-0001 2;
See also references of WO 2020119912A1 2
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01W 1/10
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