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Bibliografische Daten

Dokument EP000003712647A1 (Seiten: 20)

Bibliografische Daten Dokument EP000003712647A1 (Seiten: 20)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] OPTOELEKTRONISCHER SENSOR UND VERFAHREN ZUR ERFASSUNG VON OBJEKTEN
[EN] OPTOELECTRONIC SENSOR AND METHOD FOR DETECTING OBJECTS
[FR] CAPTEUR OPTOÉLECTRONIQUE ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION D'OBJETS
71/73 Anmelder/Inhaber PA SICK AG, DE
72 Erfinder IN GIMPEL DR HARTMUT, DE ; MARRA MARTIN, DE
22/96 Anmeldedatum AD 18.03.2019
21 Anmeldenummer AN 19163505
Anmeldeland AC EP
Veröffentlichungsdatum PUB 23.09.2020
33
31
32
Priorität PRC
PRN
PRD


51 IPC-Hauptklasse ICM G01S 7/484 (2006.01)
51 IPC-Nebenklasse ICS G01S 7/486 (2020.01)
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC G01S 7/484
G01S 7/4861
G01S 7/4863
MCD-Hauptklasse MCM G01S 7/484 (2006.01)
MCD-Nebenklasse MCS G01S 7/486 (2020.01)
MCD-Zusatzklasse MCA
57 Zusammenfassung AB [DE] Es wird ein optoelektronischer Sensor (10) zur Erfassung von Objekten in einem Überwachungsbereich (20) angegeben, mit einem Lichtsender (22) zum Aussenden von Sendelicht (26), einer beweglichen Ablenkeinheit (12) zur periodischen Ablenkung des Sendelichts (26) und einen Lichtempfänger (32) zum Empfangen des von Objekten in dem Überwachungsbereich (20) remittiertem Sendelichts (28), wobei das Sendelicht (26) mehrere voneinander separierte Abtaststrahlen (26, 28) bildet und/oder der Lichtempfänger (32) das remittierter Sendelicht (28) als mehrere voneinander separierte Abtaststrahlen (26, 28) empfängt, sowie mit einer Steuer- und Auswertungseinheit (40), die dafür ausgebildet ist, mit einem jeweiligen Abtaststrahl (26, 28) Einzelmessungen durchzuführen und mehrere Einzelmessungen zu einem gemeinsamen Messwert für den Abstand zu dem Objekt zu verrechnen. Dabei ist die Steuer- und Auswertungseinheit (40) weiterhin dafür ausgebildet, Einzelmessungen mindestens zweier unterschiedlicher Abtaststrahlen (26, 28) zu einem gemeinsamen Messwert zu verrechnen.
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT DE102016120389B3
EP000003454086A1
US020170176579A1
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT DE102018101846A1
DE102018101847A1
DE000004340756A1
DE000019757849B4
DE102004014041A1
DE102010061382A1
DE102015121839A1
DE102017107666A1
EP000002863176A2
US020100020306A1
US020180259645A1
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP
Zitierende Dokumente DE102019125684B4
DE102022209190A1
DE202021102461U1
EP000004053590A3
US000011947106B2
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP