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Titel |
TI |
[DE] OPTOELEKTRONISCHER SENSOR UND VERFAHREN ZUR ERFASSUNG VON OBJEKTEN [EN] OPTOELECTRONIC SENSOR AND METHOD FOR DETECTING OBJECTS [FR] CAPTEUR OPTOÉLECTRONIQUE ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION D'OBJETS |
71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
SICK AG, DE
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72 |
Erfinder |
IN |
GIMPEL DR HARTMUT, DE
;
MARRA MARTIN, DE
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22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
18.03.2019 |
21 |
Anmeldenummer |
AN |
19163505 |
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Anmeldeland |
AC |
EP |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
23.09.2020 |
33 31 32 |
Priorität |
PRC PRN PRD |
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51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01S 7/484
(2006.01)
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51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
G01S 7/486
(2020.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01S 7/484
G01S 7/4861
G01S 7/4863
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01S 7/484
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G01S 7/486
(2020.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Es wird ein optoelektronischer Sensor (10) zur Erfassung von Objekten in einem Überwachungsbereich (20) angegeben, mit einem Lichtsender (22) zum Aussenden von Sendelicht (26), einer beweglichen Ablenkeinheit (12) zur periodischen Ablenkung des Sendelichts (26) und einen Lichtempfänger (32) zum Empfangen des von Objekten in dem Überwachungsbereich (20) remittiertem Sendelichts (28), wobei das Sendelicht (26) mehrere voneinander separierte Abtaststrahlen (26, 28) bildet und/oder der Lichtempfänger (32) das remittierter Sendelicht (28) als mehrere voneinander separierte Abtaststrahlen (26, 28) empfängt, sowie mit einer Steuer- und Auswertungseinheit (40), die dafür ausgebildet ist, mit einem jeweiligen Abtaststrahl (26, 28) Einzelmessungen durchzuführen und mehrere Einzelmessungen zu einem gemeinsamen Messwert für den Abstand zu dem Objekt zu verrechnen. Dabei ist die Steuer- und Auswertungseinheit (40) weiterhin dafür ausgebildet, Einzelmessungen mindestens zweier unterschiedlicher Abtaststrahlen (26, 28) zu einem gemeinsamen Messwert zu verrechnen. |
56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate, in Recherche ermittelt |
CT |
DE102016120389B3 EP000003454086A1 US020170176579A1
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56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate, vom Anmelder genannt |
CT |
DE102018101846A1 DE102018101847A1
DE000004340756A1 DE000019757849B4 DE102004014041A1 DE102010061382A1 DE102015121839A1 DE102017107666A1 EP000002863176A2 US020100020306A1 US020180259645A1
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56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate, in Recherche ermittelt |
CTNP |
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56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate, vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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DE102019125684B4
DE102022209190A1
DE202021102461U1
EP000004053590A3
US000011947106B2
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
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