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Titel |
TI |
[DE] OPTOELEKTRONISCHER SENSOR UND VERFAHREN ZUR ERFASSUNG UND ABSTANDSBESTIMMUNG EINES OBJEKTS
[EN] OPTOELECTRONIC SENSOR AND METHOD FOR DETECTING AND DETERMINING THE DISTANCE FROM OBJECTS
[FR] CAPTEUR OPTOÉLECTRONIQUE ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION ET DE DÉTERMINATION DE DISTANCE D'UN OBJET |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
SICK AG, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
GIMPEL HARTMUT, DE
;
MARRA MARTIN, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
22.03.2019 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
19164520 |
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Anmeldeland |
AC |
EP |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
23.10.2019 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
DE
102018109014
20180417
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01S 17/10
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
G01S 7/486
(2006.01)
G01S 7/487
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01S 17/10
G01S 7/4865
G01S 7/4873
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01S 17/10
(2020.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G01S 7/4865
(2020.01)
G01S 7/487
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Es wird ein optoelektronischer Sensor (10) zur Erfassung und Abstandsbestimmung mit einem Lichtsender (12) zum wiederholten Aussenden von Lichtpulsen für jeweils eine Einzelmessung, einem Lichtempfänger (22) zum Erzeugen eines Empfangssignals aus einem von dem Objekt (20) remittierten Lichtpuls, einer ersten Abtasteinheit (34) zum Abtasten des Empfangssignals mit einer niedrigen Schwelle und einer zweiten Abtasteinheit (36) zum Abtasten des Empfangssignals mit einer hohen Schwelle, einem Speicher (42) zum Ablegen von Abtastwerten der ersten Abtasteinheit (34) und/oder der zweiten Abtasteinheit (36) oder daraus abgeleiteter Größen und einer Steuer- und Auswertungseinheit (38, 40) angegeben, die dafür ausgebildet ist, nach mehreren Einzelmessungen mit Hilfe der in dem Speicher (42) abgelegten Daten einen Messwert für die Lichtlaufzeit von dem Sensor (10) zu dem Objekt (20) zu bestimmen und weiterhin Abtastwerte der ersten Abtasteinheit (34) oder daraus abgeleitete Größen nur dann in dem Speicher (42) abzulegen, wenn die zweite Abtasteinheit (36) für dieselbe Einzelmessung ein Überschreiten der hohen Schwelle feststellt. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
EP000001522870A1
EP000001843171A1
EP000001882959A1
EP000002942644A1
EP000002942645A1
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01S 17/10
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