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Titel |
TI |
[DE] VERFAHREN ZUM KALIBRIEREN EINER VORRICHTUNG ZUM HERSTELLEN EINES DREIDIMENSIONALEN OBJEKTS UND ZUM DURCHFÜHREN DES VERFAHRENS AUSGEBILDETE VORRICHTUNG
[EN] METHOD FOR CALIBRATING A DEVICE FOR PRODUCING A THREE-DIMENSIONAL OBJECT AND DEVICE DESIGNED FOR CARRYING OUT THE METHOD
[FR] PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE D'UN DISPOSITIF DE FABRICATION D'UN OBJET TRIDIMENSIONNEL ET DISPOSITIF RÉALISÉ POUR LA MISE EN OEUVRE DU PROCÉDÉ |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
EOS GMBH ELECTRO OPTICAL SYSTEMS, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
PREXLER MICHAEL, DE
;
SCHADE MARTIN, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
22.09.2017 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
17192671 |
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Anmeldeland |
AC |
EP |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
22.07.2020 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
DE
102016011801
20160930
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
B33Y 10/00
(2015.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
B22F 3/105
(2006.01)
B29C 64/153
(2017.01)
B29C 64/393
(2017.01)
B33Y 30/00
(2015.01)
B33Y 50/02
(2015.01)
G01B 21/04
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
B22F 10/20
B22F 10/25
B22F 10/30
B22F 10/31
B22F 10/366
B22F 12/13
B22F 12/44
B22F 12/45
B22F 12/49
B22F 12/90
B29C 64/153
B29C 64/268
B29C 64/277
B29C 64/393
B33Y 10/00
B33Y 30/00
B33Y 50/00
B33Y 50/02
Y02P 10/25
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
B33Y 10/00
(2015.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
B22F 3/105
(2006.01)
B29C 64/153
(2017.01)
B29C 64/393
(2017.01)
B33Y 30/00
(2015.01)
B33Y 50/02
(2015.01)
G01B 21/04
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
B22F 3/105
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