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Titel |
TI |
[DE] VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR ANALYSE EINES MATERIALSTROMS
[EN] DEVICE AND METHOD FOR ANALYSING A MATERIAL FLOW
[FR] DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'ANALYSE D'UN FLUX DE MATÉRIAUX |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
BLUE OCEAN NOVA AG, DE
;
HOCHSCHULE REUTLINGEN, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
BÄUERLE TIM, DE
;
LORENZ GÜNTER, DE
;
MANNHARDT JOACHIM, DE
;
OSTERTAG EDWIN, DE
;
REBNER KARSTEN, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
02.08.2017 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
17184598 |
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Anmeldeland |
AC |
EP |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
14.02.2018 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
DE
102016009650
20160808
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01N 21/85
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
B29C 47/74
(2006.01)
B29C 47/92
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
B29C 2948/92
B29C 48/92
G01N 2021/155
G01N 21/15
G01N 21/53
G01N 21/85
G05D 23/01
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01N 21/85
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
B29C 48/74
(2019.01)
B29C 48/92
(2019.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und Verfahren zur Analyse eines Materialstroms (S) mit einem Einlassbereich (E), einem Messbereich (M) und einen Auslassbereich (A) sowie mit einer ersten Weiche (W1) und einer zweiten Weiche (W2) und einem Umlenkbereich (U), wobei die beiden Weichen (W1, W2) in einem ersten Schaltzustand (Z1) einen durchgängigen ersten Materialdurchströmungsraum vom Einlassbereich (E) über die erste Weiche (W1) durch den Messbereich (M) über die zweite Weiche (W2) bis zum Auslassbereich (A) ausbilden und in einem zweiten Schaltzustand einen durchgängigen zweiten Materialdurchströmungsraum vom Einlassbereich (E) über die erste Weiche (W1) durch den Umlenkbereich (U) über die zweite Weiche (W2) bis zum Auslassbereich (A) ausbilden. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
DE000002133797A
EP000000962299A1
US000004034219A
US020090203840A1
US020120073687A1
WO002002029389A1
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
B29C 47/74
B29C 47/92
G01N 21/05
G01N 21/15
G01N 21/53
G01N 21/85
G05D 23/01
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